PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Pełnofalowa analiza odporności elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Full-wave numerical analysis of EEG device radiated immunity
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule pokazano wyniki pełnofalowej analizy odporności elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane. Do symulacji wykorzystano numeryczny model rzeczywistego obwodu drukowanego elektroencefalografu z dołączonymi przewodami. Strukturę "oświetlano" płaską fala elektromagnetyczną dla różnych polaryzacji i kierunków padania. Głównym celem prac było wskazanie dróg przenikania zaburzeń i oszacowanie wpływu filtrów wejściowych na poziom napięć indukowanych w kanałach pomiarowych.
EN
This paper illustrates numerical analysis of the EEG device radiated immunity. A realistic numerical model of the PCB of device under test with connected wires is developed. The structure is illuminated by a plane wave for different polarizations and directions of incidence. The main purpose of this study is to show the main coupling paths and influence of input filter elements on the level of induced radio-frequency noise voltage in the circuit.
Rocznik
Strony
70--73
Opis fizyczny
Bibliogr. 13 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 2A, 44-100 Gliwice
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 2A, 44-100 Gliwice
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 2A, 44-100 Gliwice
Bibliografia
  • [1] Ott W. H., Electromagnetic Compatibility Engineering, Wiley, 2009.
  • [2] Archambeault B., Brench C., Ramahi O. M., EMI/EMC Computational Modeling Handbook, Kluwer Academic Publishers, 2001.
  • [3] Poljak D., Advanced Modeling in Computational Electromagnetic Compatibility, Wiley-Interscience, 2007.
  • [4] Barchanski A., Kramer J., Luzzi P., EMC Simulation in the Design Flow of Modern Electronics, Microwave Journal, Dec. 2014.
  • [5] Mocha J., Woźnica T., Wójcik D., Noga A., Surma M., The impact of electromagnetic disturbances on the medical device, Przegląd Elektrotechniczny, 88 (2012), nr 2, 42-44.
  • [6] Novotny D. R., Guerrieri J. R., Kuester D. G., Potential interference issues between FCC part 15 compliant UHF ISM emitters and equipment passing standard immunity testing requirements, IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine, vol. 1, pp. 92-96, 2012.
  • [7] Helhel S., Colak Z. A., Ozen S., Distance and Location of Both Mobile Phones and Health Care Units: Determines the Interference Level, American Journal of Biomedical Engineering, vol. 1, no 2, pp. 78-82, 2011.
  • [8] Tang C.-K., Chan K.-H., Fung L.-C., Leung S.-W., Electromagnetic Interference Immunity Testing of Medical Equipment to Second- and Third-Generation Mobile Phones, IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 51, no. 3, pp. 659-664, Aug. 2009.
  • [9] Buczkowski T., Janusek D., Zavala-Fernandez H., Skrok M., Kania M., Liebert A., Influence of Mobile Phones on the Quality of ECG Signal Acquired by Medical Devices, Measurement Science Review, vol. 13, no. 5, pp. 231-236, 2013.
  • [10] Noga A., Wójcik D., Surma M., Karwowski A., Topa T., Odporność encefalografu na zakłócenia promieniowane - przykład analizy numerycznej, Przegląd Elektrotechniczny, 92 (2016), nr 12, 109-112.
  • [11] https://www.cst.com/products/cstmws
  • [12] Wójcik D., Mocha J., Surma M., Noga A., Magnuski M., Karwowski A., Topa T., Radiated immunity of medical devices vessus nonlinear performance of analog input circuit, Przegląd Elektrotechniczny, 93 (2017), nr 1, 225-228.
  • [13] PN-EN 60601-1-2:2015-11, Medyczne urządzenia elektryczne -- Część 1-2: Wymagania ogólne dotyczące bezpieczeństwa podstawowego oraz funkcjonowania zasadniczego -- Norma uzupełniająca: Zakłócenia elektromagnetyczne -- Wymagania i badania.
Uwagi
Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-ed3f7673-60f9-4500-982e-98774dab4683
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.