Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Microscopic investigations of microstructure and degradation effects in operated MO varistors
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono wyniki badań mikrostruktury warystorów ZnO, wchodzących w skład beziskiernikowych ograniczników przepięć wysokiego napięcia. Badania obejmowały warystory wykonane w różnych okresach i przez różnych producentów. Inspiracją do podjęcia badań były różniące się charakterystyki prądów płynących przez ograniczniki w funkcji napięcia systemu w rozdzielni 400 kV oraz temperatury, w cyklu rocznym. Ponadto badane były efekty degradacji mikrostruktury warystorów po awarii rozszczelnionego ogranicznika przepięć. Uzyskane wyniki dały podstawę do oceny parametrów mikrostruktury warystorów ZnO z punktu widzenia ich trwałości i odporności na procesy degradacji.
The article presents the results of investigation of microstructure and degradation of ZnO varistors of the high voltage surge arresters. The research included varistors made at different times and by different manufacturers. The inspiration to undertake the study were differing characteristics of currents flowing through the limiter as a function of surge voltage system of 400 kV and temperature on an annual basis. In addition, there were studied the effects of the microstructure degradation of the varistors from the surge arrester after the breakdown. The results gave the basis for the evaluation of the microstructure parameters of the ZnO varistors from the point of view of their durability and resistance to degradation processes.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
120--125
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Instytut Energetyki – Instytut Badawczy (IEn), ul. Mory 8, 01-330 Warszawa
autor
- Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN (IPPT PAN), ul. Pawińskiego 5b, 02-106 Warszawa
Bibliografia
- [1] Clarke D.R., On the equilibrium thickness of intergranular glass phases in ceramic materials, J. Am. Ceram. Soc., 85 (1999), 485- 502
- [2] Levinson L.M., editor, Advances in Varistor Technology, Ceramic Transactions, 3 (Am. Ceram. Soc. 1989)
- [3] Greuter F., Blatter G., Electrical properties of grain boundaries in polycrystalline compound semiconductors, Semiconductors Science and Technology, 5, 2 (1990) 111-137
- [4] Jaroszewski M., Kostyła P., Wacławek Z., Metoda określania wartości parametrów wewnętrznych warystora na podstawie pomiaru wartości chwilowych prądu i napięcia. Przegląd Elektrotechniczny Konferencje, 3 (2007) 115-116
- [5] Sposób diagnozowania stanu zużycia ograniczników przepięć, Patent Instytutu Energetyki nr 194 371 (2007)
- [6] Papliński P., Ranachowski P., Badania powierzchni elementów wewnętrznych ograniczników przepięć, Przegląd Elektrotechniczny, 5a (2012) 73-76
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-e89faf60-69b7-4abf-ab41-7f5ab9c4dfe4