Wykorzystanie metod aktywnej termografii w podczerwieni do wykrywania defektów materiałowych

• Autorzy: Różański L. , Ziopaja K.

Warianty tytułu

EN

The use of methods of active infrared thermography to detect defects in materials

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy poruszono zagadnienia dotyczące oceny możliwości wykorzystania metod aktywnej termografii w podczerwieni do wykrywania defektów materiałowych takich np. jak pęknięcia, rozwarstwienia, rysy. Posłużono się analizą falkową jako „narzędziem matematycznym” umożliwiającym generowanie obrazów parametrycznych odwzorowujących te defekty. Przeprowadzono badania symulacyjne i doświadczalne, które pokazały, że identyfikacja wad lub uszkodzeń materiału, przy wykorzystaniu dwuwymiarowej dyskretnej transformaty falkowej funkcji opisującej powierzchniowy rozkład temperatury, może być skutecznym narzędziem do ich wykrywania i identyfikacji. Stwierdzono, że istotny wpływ na skuteczność detekcji wad materiałowych może mieć poziom szumów generowanych w torze pomiarowym systemu termograficznego.

EN

The possibility of detection the hidden defects or damage applying the methods of dynamic infrared thermography and the 2D discrete wavelet transform of data measured in thermal processes has been described. Besides of theoretical information about application of these transforms results of MES digital simulations as well as qualitative experimental has been presents.

Słowa kluczowe

PL

termografia; podczerwień; defekty materiałowe; analiza falkowa

EN

thermography; infrared; IR; defects in materials; wavelet analysis

• Wydawca: Wydawnictwo Wrocławskiej Rady FSNT NOT
• Czasopismo: Inżynieria Maszyn
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 18, z. 3
• Strony: 60--65
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., wykr.

Twórcy

autor

Różański L.

• Politechnika Poznańska, Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych

autor

Ziopaja K.

• Politechnika Poznańska, Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych

Bibliografia

• [1] BREITENSTEIN O., WARTA W., LANGENKAMP M., 2010, Lock-in thermography – Basics and applications to functional diagnostics of electronic components, Springer.
• [2] WU D., BUSSE G., 1998, Lock-in thermography for nondestructive evaluation of materials, Revue Generale de Thermique, 37/8, 693-703.
• [3] SHEPARD S., 2001, Advances in pulsed thermography, Proc. SPIE, Thermosense-XXIII, 4360, 331-337.
• [4] MALDAGUE X. P., GALMICHE F., ZIADI A. , 2002, Advences in Pulse-phase Thermography, Infrared Physics & Technology, 43, 175-181.
• [5] OLBRYCHT R. W., WIĘCEK B., GRALEWICZ T., SWIĄTCZAK T., OWCZAREK G., 2007, Comparison of Fourier and wavelet analyses for defekt detection in lock-in and pulse phase thermography, QIRT Journal, 4/2, 219-232.
• [6] MALLAT S.,1989, A theory for multiresolution signal decomposition: the wavelet representation, IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 11/ 7, 674-693.