Laboratorium pomiarów elementów i układów elektronicznych

• Autorzy: Bisewski D. , Zarębski J.

Warianty tytułu

EN

Laboratory of measurements of electronic devices and circuits

• Konferencja: Computer Applications in Electrical Engineering 2013 (15-16.04.2013; Poznań, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy zaprezentowano Laboratorium Pomiarów Elementów i Układów Elektronicznych umiejscowione w Katedrze Elektroniki Morskiej Akademii Morskiej w Gdyni. Należy ono do zespołu laboratoriów, w których realizowane są zagadnienia związane z projektowaniem i wykonywaniem obwodów oraz urządzeń elektronicznych, a także pomiarami elementów elektronicznych stosowanych w tych urządzeniach. Opisano koncepcję laboratorium oraz najważniejsze urządzenia stanowiące jego wyposażenie. Wskazano obszar zadań badawczych i dydaktycznych, w którym to laboratorium może być użyteczne.

EN

The paper presents a research Laboratory of Measurements Electronic Devices and Circuits located in the Department of Marine Electronics in Gdynia Maritime University. The laboratory is dedicated for performing various measurements of characteristics and parameters of electronic devices and circuits. PC-controlled measuring instrumentation of a high precision fabricated e.g. by Keithley, is used in measuring processes.

Słowa kluczowe

PL

laboratorium pomiarów elementów i układów elektronicznych; Akademia Morska w Gdyni

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
• Rocznik: 2013
• Tom: No. 76
• Strony: 251--258
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys.

Twórcy

autor

Bisewski D.

• Akademia Morska w Gdyni

autor

Zarębski J.

• Akademia Morska w Gdyni

Bibliografia

• [1] Kisiel R.: Podstawy technologii dla elektroników - Poradnik praktyczny, Wydawnictwo BCT, Warszawa, 2005.
• [2] Zarębski J.: Modelowanie, symulacja i pomiary przebiegów elektrotermicznych w elementach półprzewodnikowych i układach elektronicznych. Prace Naukowe Wyższej Szkoły Morskiej w Gdyni, Gdynia, 1996.
• [3] Górecki K, Zarębski J., Bisewski D., Dąbrowski J., Jasicki P., Laboratorium projektowania i konstrukcji urządzeń elektronicznych, Wiadomości Elektrotechniczne, Nr 10, Sigma-Not, 2012, ss. 34-36.
• [4] www.keithley.com - adres internetowy firmy Keithley.
• [5] Janke W.: Zjawiska termiczne w elementach i układach półprzewodnikowych. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 1992.
• [6] Górecki K., Zarębski J., System mikrokomputerowy do pomiaru parametrów termicznych elementów półprzewodnikowych i układów scalonych, Metrologia i systemy pomiarowe, Nr 8 (4), ss. 379-395, 2001.
• [7] Zarębski J., Górecki K., Dąbrowski J., Laboratoryjny system pomiarowy do badania parametrów termicznych elementów półprzewodnikowych, International Conference Mixed Design of Integrated Circuits, MIXDES, Gdynia, 2013.
• [8] www.atmel.com - adres internetowy firmy Atmel.
• [9] www.mccdaq.com - adres internetowy firmy Measurement Computing.
• [10] www.vigo.com.pl - adres internetowy firmy Vigo System.
• [11] www.optex.co.jp - adres internetowy firmy Optex.
• [12] www.lutron.com.tw - adres internetowy firmy Lutron.