PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Trzy obudowy do zastosowania w technice testowania i pomiarów

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Na rynkach zastosowań wymogi odnośnie do parametrów obudów zmieniają się nieustannie. Na przykład w technice testowania i pomiarów potrzeba bardzo elastycznych możliwości montażu oraz szerokiej gamy akcesoriów i części montażowych. Wzornictwo także odgrywa istotną rolę. Oprócz tego często niezbędna jest optymalna koncepcja kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) o wysokiej skuteczności ekranowania.
Rocznik
Strony
20--22
Opis fizyczny
rys.
Twórcy
autor
  • ELTRON, Pl. Wolności 7B, 50-071 Wrocław
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-e304007d-043e-4e6d-8244-d1f6f8a77cec
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.