Wykorzystanie pakietu testów statystycznych NIST STS 2.1.1 do testowania sekwencji generatorów DLFSR

• Autorzy: Stępień R.

Warianty tytułu

EN

Application of the statistical test suite STS 2.1.1 to testing of the DLFSR sequences

• Konferencja: Computer Applications in Electrical Engineering 2014 (28-29.04.2014; Poznań, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule opisano wyniki testów statystycznych sekwencji wyjściowych generatora pseudolosowego zrealizowanego na rejestrze przesuwnym i dynamicznym liniowym sprzężeniu zwrotnym (ang. Dynamic Linear Feedback Shift Register - DLFSR). Do analizy sekwencji wykorzystano pakiet testów statystycznych NIST STS 2.1.1. Ten pakiet testów statystycznych posłużył do przebadania dwóch sekwencji wyjściowych dwóch różnych generatorów DLFSR. Uzyskane wyniki przedstawiono w formie wykresu oraz omówiono.

EN

The following article provides a description of a statistical tests results of the dynamic linear feedback shift register generator - DLFSR. The generators’ sequences were analyzed in the NIST statistical test suite STS 2.1.1. This test suite was used to analyze two pseudo random sequences generated by the two different 32 bits DLFSR generators. Obtained results were discussed and shown in a form of diagrams.

Słowa kluczowe

PL

sygnały pseudolosowe; generatory DLFSR; testy statystyczne; STS-2.1.1

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
• Rocznik: 2014
• Tom: No. 78
• Strony: 225--231
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Stępień R.

• Politechnika Śląska

Bibliografia

• [1] Schneier B.: Kryptografia dla praktyków, Vol. 2, WNT, Warszawa 2002.
• [2] Stępień R., Walczak J.: Application of the DLFSR generators in spread spectrum communication, 19th International Conference “MIXDES Design of Integrated Circuits and Systems” ,MIXDES-2012, Warszawa, maj 2012, pp: 555-558.
• [3] Stępień R., Walczak J.: Comparative Analysis of Pseudo Random Signals of the LFSR and DLFSR Generators, proceedings of 20th International Conference “MIXED Design of Integrated Circuits and Systems”, MIXDES-2013, Gdynia, czerwiec 2013, pp: 598-602.
• [4] Patidar V., Sud K.K.: A Novel Pseudo Random Bit Generator Based on Chaotic Standard Map and its Testing, Electronic Journal of Theoretical Physics, No.20, 2009, pp: 327-344.
• [5] Park S.K., Miller K.W. : Random number generators: good ones are hard to find, Communications of the ACM, Volume 31, Issue 10, October 1988, pp: 1192 - 1201.
• [6] Haag M.: Introduction to random signal and processes, Connections Project, 2005.
• [7] Zwierko A.: Testowanie generatorów pseudolosowych - wybrane programowe pakiety testów statystycznych, VII Krajowa Konferencja Zastosowań Kryptografii, Warszawa, maj 2003, ss: 1-20.
• [8] Soto J.: Statistical Testing of Random Number Generators, National Institute of Standards & Technology, Proceedings of the 22nd National Information Systems Security Conference, 10/99, pp: 1-12.
• [9] Rashidah K., Maarof M.A.: Randomness Analysis of Pseudorandom Bit Sequences, International Conference on Computer Engineering and Applications, IPCSIT vol.2 IACSIT Press, Singapore, 2011, pp: 390-394.
• [10] Kotulski Z.: Generatory liczb losowych: algorytmy, testowanie, zastosowania, Matematyka Stosowana 2, 2001, ss: 1-9.
• [11] Rukhin A i inni, A Statistical Test Suite for Random and Pseudorandom Number Generators for Cryptographic Applications, National Institute of Standards and Technology, rev 1a, april 2010.
• [12] Strona internetowa pakietu STS 2.1.1 http://csrc.nist.gov/groups/ST/toolkit/rng/documentation_software.html