PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

FiTest: 3-in-1 test station for diagnosis of PCBA

Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
FiTest: 3 w 1 – stanowisko diagnostyczne PCBA
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
This article presents the innovative integrated testing system Fi-Test for automatic, quick inspection of printed circuit board assemblies (PCBA) manufactured in Surface Mount Technology (SMT). Integration of Automatic Optical Inspection (AOI), In-Circuit Tests (ICT) and Functional Circuit Tests (FCT) resulted in universal hardware platform for testing variety of electronic circuits. The platform provides increased test coverage, decreased level of false calls and optimization of test duration. The platform is equipped with advanced algorithms performing tests in a stable and repetitive way and providing effective management of diagnosis.
Artykuł przedstawia innowacyjny system do automatycznej inspekcji podzespołów elektronicznych (PCBA) wytwarzanych w technologii montażu powierzchniowego (SMT). Zintegrowano w nim trzy typy testów: automatyczną inspekcję optyczną (AOI), testy elektryczne w obwodzie (ICT) oraz testy funkcjonalne (FCT). Dzięki temu rozwiązaniu uzyskano zwiększone pokrycie testów i zmniejszony poziom fałszywych błędów a zastosowanie zaawansowanych algorytmów do wykonywania testów zapewnia stabilność i powtarzalność uzyskiwanych wyników.
Słowa kluczowe
EN
PL
Rocznik
Strony
14--16
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., il., rys., tab.
Twórcy
autor
  • Fitech sp. z o.o., ul. Kościelna 5, 43-200 Sucha Beskidzka, Poland
autor
  • Fitech sp. z o.o., ul. Kościelna 5, 43-200 Sucha Beskidzka, Poland
Bibliografia
  • [1] R. Kisiel, (2005) „Podstawy technologii dla elektroników“, BTC, Warszawa, 179–184.
  • [2] N. K. Chari, (2014) „PCBA Test: Enabling the Right Management Practice“, SMT Magazine, May, 58–63.
  • [3] M. Dzwonnik, (2005) „Testowanie płytek drukowanych“, Elektronika Praktyczna 12, 48–56.
  • [4] K. Iqbal, (2015) „How Inspection Advancements Have Changed the Manufacturing Process of Microelectronics“, Electronics Production World, December, 17 (2015). http://electronicsproductionworld.com/how-inspection-advancements-have-changed-the-manufacturing-process-of-microelectronics/.
Uwagi
EN
The Project of FiTest was financed by the European Regional Development Fund under the Operational Programme Innovative Economy POIG.01.04.00-12-322/13.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-e2350d9a-528f-4faf-b91a-010ad2bd3231
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.