Automation of the calibration process as one of the directions of development of military metrology

• Autorzy: Klebba Maciej

Identyfikatory

DOI

10.2478/sjpna-2019-000

Warianty tytułu

PL

Automatyzacja procesu kalibracji jako jeden z kierunków rozwoju metrologii wojskowej

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

he article discussed aim to introduce readers to the problem matter in connection with the changestaking place within the area related to the issue of metrology in the Armed Forces of the Polish Republic. The article depicts the current situation along with the changes, which took place over the recent years, in the structures of Military Metrology, and it presents the major directions of its development, with particular emphasis on the automation of the calibration process.

PL

Artykuł jest wprowadzeniem w zagadnienia związane z metrologią w Siłach Zbrojnych Rzeczypospolitej Polskiej. Przedstawiono w nim aktualną sytuację metrologii wojskowej wraz ze zmianami, jakie zaszły w ostatnich latach. Zaprezentowano także główne kierunki jej rozwoju, ze szczególnym uwzględnieniem automatyzacji procesu kalibracji.

Słowa kluczowe

EN

automation; metrology; technological development; management system

PL

automatyzacja; zabezpieczenie metrologiczne; rozwój technologiczny; system zarządzania

• Wydawca: Akademia Marynarki Wojennej im. Bohaterów Westerplatte
• Czasopismo: Scientific Journal of Polish Naval Academy
• Rocznik: 2019
• Tom: R. 60 nr 1 (216)
• Strony: 45--58
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Klebba Maciej

• 1st Military Centre of Metrology, Władysława Miegonia 45 Str., 81-103 Gdynia, Poland

Bibliografia

• [1 ]Benz S. P., Hamilton C. A., Application of the Josephson effect to voltage metrology, ‘Proc. IEEE’, 2004, Vol. 92, pp. 1617–1629.
• [2] Decyzja Nr 209/MON Ministra Obrony Narodowej z dnia 12 czerwca 2015 r. w sprawie dzia-łalności metrologicznej w resorcie obrony narodowej, Dz. Urz. MON,Warszawa, 15 czerwca 2015,poz. 161 Decision number 209 the Minister of National Defense about metrological activity in the Ministry of National Defense—available in Polish]
• [3] Jeanneret B., Benz S.P., Application of Josephson effect in electrical metrology, ‘Eur. Phys. J. Special Topics’,2009, Vol. 172, pp. 181–206.
• [4] Jeckelmann B., Jeanneret B., Quantum Hall Effect as an Electrical Resistance Standard, ‘Sémi-narie Poincaré,2004, Vol. 2, pp. 39–51.
• [5] Klitzing K., 25 Years of Quantum Hall Effect (QHE). A Personal View on the Discovery, Phisics and Applications of this Quantum Effect, ‘Séminarie Poincaré’,2004, Vol. 2, pp. 1–16.
• [6] Masiukiewicz A., Źródła czasu i częstotliwości. Stan aktualny i kierunki rozwoju, ‘Kwartalnik Naukowy Uczelni Vistula’,2007, No.3(53),pp. 130–147 [Sources of time andfrequency. Cur-rent status and directions of development—available in Polish].
• [7] Standard PN-EN ISO/IEC 17025
• [8] Wojskowe Centrum Metrologii [Military Center of Metrology], [online],https://wcm.wp.mil.pl/pl/[access 28.01.2019].

Uwagi

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2019).