Koncepcja metody pomiarowej szacowania wielkości defektów podpowierzchniowych w materiałach

• Autorzy: Chudzik S.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2018.09.22

Warianty tytułu

EN

The concept of the measurement method for estimating the dimension of subsurface defects in materials

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań symulacyjnych nad opracowywaną metodą szacowania wielkości defektów podpowierzchniowych w materiałach z wykorzystaniem pomiarów termowizyjnych. W badaniach symulacyjnych sprawdzono jednoznaczność rozwiązania zagadnienia odwrotnego wykorzystując stworzony do tego celu trójwymiarowy model zjawiska dyfuzji ciepła. Do rozwiązania współczynnikowego zagadnienia odwrotnego zaproponowano koncepcję wykorzystania sztucznej sieci neuronowej.

EN

The article presents the results of simulation research into developing methods for estimating the size of subsurface defects in materials using the infrared thermography. In simulation, the inverse problem solution was examined, using the three-dimensional model of the phenomenon of the heat diffusion created for this purpose. The concept of using an artificial neural network is proposed for the coefficient solution of the inverse problem.

Słowa kluczowe

PL

termografia; defektoskopia; sztuczna sieć neuronowa; zagadnienie odwrotne

EN

infrared thermography; defectoscopy; artificial neural network; inverse problem

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2018
• Tom: R. 94, nr 9
• Strony: 91--94
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Chudzik S.

• Politechnika Częstochowska, Instytut Optoelektroniki i Systemów Pomiarowych, al. Armii Krajowej 17, 42-200 Częstochowa

Bibliografia

• [1] Chudzik S., Applying infrared measurements in a measuring system for determining thermal parameters of thermal insulation materials, Infrared Physics & Technology, 81, (2017), 296-304.
• [2] Więcek B., Pacholski K., Olbrycht L., Strąkowski S., Kałuża M., Borecki M., Wittchen W., Termografia i spektrometria w podczerwieni, zastosowania przemysłowe, WNT, Warszawa 2017.
• [3] Maldague X., Theory and practice of infrared technology for nondestructive testing, John Wiley & Sons, Inc., New York 2001.
• [4] Minkina W., Pomiary termowizyjne – przyrządy i metody, Wydawnictwa Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa 2004.
• [5] Moore P.O. ed., Maldague X. technical ed., NDT Handbook on Infrared technology, ASNT Handbook Series, ASNT Press (American Society for NonDestructive Testing) Press 2001
• [6] Minkina W., Chudzik S., Pomiary parametrów cieplnych materiałów termoizolacyjnych – przyrządy i metody, Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa 2004.
• [7] Osowski S., Sieci neuronowe do przetwarzania informacji, OWPW, Warszawa 2013.
• [8] Beck J.V., Inverse Heat Conduction, A Wiley-Intersc. Publ. 1985.
• [9] Taler J., Duda P., Solving Direct and Inverse Heat Conduction Problems. Springer, Berlin 2006.
• [10] Gajda J. Szyper M., Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych, Nakładem Akademii Górniczo-Hutniczej, Kraków 1998.
• [11] Gryś S., Minkina W., Wyznaczanie granic defektów podpowierzchniowych metodą aktywnej termografii – badania modelowe, Przegląd Elektrotechniczny, 4 (89), 2013, 221-223.
• [12] Minkina W., Dudzik S., Infrared Thermography – Errors and Uncertainties. John Wiley & Sons Ltd., Chichester, 2009 .
• [13] Wesołowski M. Niedbała R. Kucharski D., Wiarygodność termowizyjnych technik pomiaru temperatury, Przegląd Elektrotechniczny, 85 (2009) n.12, 208-212.

Uwagi

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).