International Journal of Microelectronics and Computer Science - Tom Vol. 9, nr 1 (2018) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 9, nr 1

Czasopismo

International Journal of Microelectronics and Computer Science

Wydawca

Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science

Rocznik

2018

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 9, nr 1
- artykuł: Analysis and investigation of Schottky barrier MOSFET current injection with process and device simulation (Schwarz Mike, Calvet Laurie E., Snyder John P., Krauss Tillmann, Schwalke Udo, Kloes Alexander), s. 1--8
- artykuł: Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuits (Kõusaar Jaak, Kostin Sergei, Ubar Raimund, Devadze Sergei, Raik Jaan), s. 9--18
- artykuł: Frequency domain non-linear compact modelling and simulation of IC spiral inductors on silicon (Brinson Mike), s. 13--26
- artykuł: Modeling of vibrating angular. Motion sensor in Matlab/SIMULINK (Nazdrowicz Jacek), s. 27--32
- artykuł: VHDL-AMS Models for Current Conveyor Based Monolithic Operational Amplifiers (Pandiev Ivailo M.), s. 34--46

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.