PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Możliwości pomiaru niskich temperatur z wykorzystaniem oscylatora RC mikrokontrolera ATmega16A

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Low temperature measurement possibilities with internal RC oscillator in ATmega16A microcontroller
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule zaprezentowano wyniki badań oscylatora RC mikrokontrolera ATmega16A dla temperatur zmniejszanych do 77K. Zaproponowano wykorzystanie oscylatora RC jako wbudowanego częstotliwościowego czujnika temperatury. Wyznaczono temperaturowe charakterystyki względnych zmian częstotliwości oraz charakterystyki czułości omawianego sensora. Sformułowano wnioski dotyczące właściwości cieplnych i nieliniowych charakterystyk sensora przy pracy w systemach pomiarowych w zakresie niskich temperatur.
EN
The article presents the results of RC oscillator tests for ATmega16A microcontroller with the lowest thermal point at 77K. The integrated RC oscillator was proposed as a cryogenic thermometer. Then, the temperature characteristics of the relative frequency changes and sensitivity of low-temperature sensor are calculated. The author formulates conclusions concerning the thermal properties and non-linear characteristics of the sensor at low temperatures.
Rocznik
Strony
103--106
Opis fizyczny
Bibliogr. 11 poz., rys.
Twórcy
autor
  • Politechnika Poznańska, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, ul. Polanka 3, 60-965 Poznań
Bibliografia
  • [1] Lebioda M., Rymaszewski J., Korzeniewska E., Applications of second-generation superconducting tapes to produce strong magnetic fields, Przegląd Elektrotechniczny, 89 (2013), nr.12, 265-268
  • [2] Lebioda M., Rymaszewski J., Dynamic properties of cryogenic temperature sensors, Przegląd Elektrotechniczny, 91 (2015), nr.2, 225-227
  • [3] ATmega16A, 8-bit AVR microcontroller with 16K Bytes In-System Programmable Flash, Atmel Corporation, 2014
  • [4] Baranowski R., Mikrokontrolery AVR ATmega w praktyce, BTC Warszawa, 2005
  • [5] Pająkowski J., Pomiar wzmocnienia napięciowego scalonych wzmacniaczy operacyjnych CMOS w zakresie temperatur 4,2 do 300K, Pomiary Automatyka Kontrola, vol.54 (2008), nr.6, 371-373
  • [6] Pająkowski J., Behavior of light emitting diodes at low temperatures, Elektronika, vol.52 (2011), nr.6, 49-51
  • [7] Pająkowski J., Praca przetwornika optoelektronicznego TSL250R w niskiej temperaturze, Przegląd Elektrotechniczny, 91 (2015), nr.12, 284-287
  • [8] Michalak S., Behaviour of ATtiny microprocessors at low temperatures, Proceedings of the Twenty-Third International Cryogenic Materials Conference 2010, July 2010, Wrocław, Poland, 581-584
  • [9] Arnold K., Properties of internal RC oscillator of ATmega16A structure at low temperatures, Proceedings of the Twenty-Third International Cryogenic Materials Conference 2010, July 2010, Wrocław, Poland, 567-570
  • [10] Arnold K., Michalak S., Pająkowski J., Evaluation of selfheating of AVR microcontrollers in low temperatures, Proceedings of the Twenty-Third International Cryogenic Materials Conference 2010, July 2010, Wrocław, Poland, 571-574
  • [11] Konopko K., Realizacja nieliniowych metod przetwarzania sygnałów w systemach cyfrowych, Przegląd Elektrotechniczny, 91 (2015), nr.1, 77-80
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-dc919203-10a7-4817-9423-f9ae36c31c38
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.