Systemy do pomiaru topografii powierzchni

• Autorzy: Wieczorowski M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Pomiary nierówności powierzchni na podstawie profilu często nie odzwierciedlają rzeczywistego stanu powierzchni. Coraz częściej zatem przedmiotem zainteresowania jest fragment powierzchni, czyli pewien obszar, a nie tylko pojedynczy odcinek (profil). Analiza zmienia się wtedy z dwóch wymiarów (2D) na trzy (3D) i nazywana jest powszechnie pomiarami topografii powierzchni. W tym artykule zaprezentowane zostaną najbardziej powszechne rozwiązania stosowane w tej dziedzinie.

Słowa kluczowe

PL

topografia powierzchni; multiprofilometria; mikroskopia konfokalna; interferometria koherentna skaningowa; mikroskopia różnicowania ogniskowego

• Wydawca: ELAMED Media Group
• Czasopismo: Stal, Metale & Nowe Technologie
• Rocznik: 2014
• Tom: nr 5-6
• Strony: 138--142
• Opis fizyczny: Rys.

Twórcy

autor

Wieczorowski M.

• Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Instytutu Technologii Mechanicznej Politechniki Poznańskiej