Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Właściwości dynamiczne czujników temperatury w warunkach kriogenicznych
Języki publikacji
Abstrakty
The article presents the results of dynamic tests of the most popular temperature sensors at low temperatures. The resistance sensors (Pt100) and thermocouples (type E and T) were tested. Measurements were carried out in the vacuum cryostat cooled by the closed cycle helium crycooler. The analysis of the temperature characteristics of sensors, the sensitivity and the influence of external factors on the measurement were presented in the paper.
W artykule przedstawiono wyniki badań dynamicznych najbardziej popularnych czujników temperatury w warunkach kriogenicznych. Badaniom zostały poddane czujniki rezystancyjne (Pt100) oraz czujniki termoelektryczne (typ E i T). Pomiary zostały zrealizowane w kriostacie próżniowym współpracującym z kriochłodziarką helową. Przedstawiono analizę charakterystyk temperaturowych czujników, ich czułości oraz wpływ czynników zewnętrznych na pomiar.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
225--227
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul. Stefanowskiego 18/22, 90-924 Łódź
autor
- Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul. Stefanowskiego 18/22, 90-924 Łódź
Bibliografia
- [1] Lebioda M., Rymaszewski J., Korzeniewska E., Applications of second-generation superconducting tapes to produce strong magnetic fields, Przeglad Elektrotechniczny, 89 (2013), no. 12, 265-268
- [2] Lebioda M., Rymaszewski J., Korzeniewska E., Simulation of Thermal Processes in Superconducting Pancake Coils Cooled by GM Cryocooler, Journal of Physics: Conference Series, 494 (2014), 012018
- [3] Pobell F., Matter and Methods at Low Temperatures, Springer-Verlag (2007)
- [4] Yeager C.J., Courts S.S., A Review of Cryogenic Thermometry and Common Temperature Sensors, IEEE Sensors Journal, 1 (2001), no.4, 352-360
- [5] Preston-Thomas H., International Temperature Scale of 1990 (ITS-90), Metrologia, 27 (1990), no. 1, 3-10
- [6] DT-670 Silicon Diodes – Technical Specifications, http://www.lakeshore.com/
- [7] Krysciak T., Low-Temperature Measurements with Thin Film Platinum Resistance Elements, http://heraeus-sensortechnology-us.com/, 2013
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-daea134f-1d1f-481b-88ae-b3bd13e154b4