Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Fluctuation of input amplifiers DC level, caused by external high-frequency disturbances
Konferencja
Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC'99 (I ; 7-8.10.1999 ; Dobieszków, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule rozpatrzono wrażliwość wzmacniaczy pomiarowych na zakłócenia wielkiej częstotliwości. Przedstawiono wyniki badań odporności znanych typów wzmacniaczy oraz podano sposoby podwyższenia tej odporności za pomocą dodatkowych elementów zewnętrznych.
Influence of zero-level instability of the input amplifiers, caused by external high-frequency noise are described. High-frequency noise signals, generated mainly by broad casting and TV transmitters, are common in the measurements circuits environments. In non-linear amplifier input circuits, detection of those signals causes instability of zero-level. Analytic description of those phenomena is very complicated and does not guide to significant quantitative results. Choice of the best suited types of input amplifiers should be made on the base of the experimental investigations. Results of the measurements of the high-frequency noise immunity of the most common type of input amplifiers, used in measurement circuits, are given in the paper.
Rocznik
Tom
Strony
17--24
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz.
Twórcy
autor
- Przemysłowy Instytut Elektroniki
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-da9c2c07-b8b5-4d7b-bcb4-65cb88df1bd2