Badania odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne

• Autorzy: Kołodziejski J. F. , Kuciński S.

Warianty tytułu

EN

Immunity investigation of integrated circuits to electromagnetic disturbances

• Konferencja: Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC'99 (I ; 7-8.10.1999 ; Dobieszków, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono niektóre problemy związane z badaniami odporności modułów i układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne. Na wstępie uzasadniono potrzebę takich badań oraz przedstawiono podział metod badawczych. Dalej zaprezentowano nową metodę badań odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne, wykorzystującą tzw. małą klatkę Faraday'a. Opisano stanowisko badawcze. Przedstawiono analizę przydatności tej metody w różnych zastosowaniach. Zaprezentowano również niektóre wyniki badań odporności na zaburzenia elektromagnetyczne cyfrowych układów scalonych, przeprowadzonych według proponowanej metody.

EN

This paper presents some problems related to electronic modules and integrated circuits immunity testing against electromagnetic disturbances. At the beginning the need for such kind testing has been justified and a classification of testing methods has been presented. The new method of integrated circuits immunity testing against electromagnetic disturbances with the use of a small Faraday's cage has been also presented. The testing set-up has been shown. Carried out analysis of application possibilities of presented method has been shortly described. Some results of digital integrated circuits immunity testing against electromagnetic disturbances, based on the proposed method has been finally presented.

Słowa kluczowe

PL

układy scalone; zaburzenia elektromagnetyczne; cyfrowe układy scalone; mała klatka Faraday`a

EN

integrated circuits; electromagnetic disturbance; digital integrated circuits; small Faraday's cage

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 1999
• Tom: z. 93
• Strony: 45--54
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Kołodziejski J. F.

• Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa

autor

Kuciński S.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa