Wyzwania metrologii w kontekście przemysłu przyszłości

• Autorzy: Wieczorowski Michał

Warianty tytułu

EN

Metrology challenges in the context of the industry of the future

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Będąc młodym pracownikiem naukowym (parafrazując młodą lekarkę ze znanej swego czasu audycji radiowej), znalazłem się w gabinecie naszego uczelnianego szefa, profesora Jana Chajdy, który rozmawiał z raczkującym podówczas przedsiębiorcą, deklarującym wytwarzanie kół zębatych w bardzo wymagającej klasie. Zachwycał się obrabiarką i narzędziami, aż w końcu profesor spytał: – A skąd wiesz, jaka to klasa, czym to mierzysz? W odpowiedzi usłyszał, że producent maszyny tak deklaruje i czy w związku z tym trzeba mierzyć? Szef zadumał się chwilę i odpowiedział: – Produkujesz, ale nie mierzysz, więc nie wiesz, co produkujesz, bo tak się mówi, że jeśli żyjesz, ale nie mierzysz, to nie żyjesz...

EN

As a young researcher (to paraphrase the young doctor from a well-known radio show of yore), I found myself in the office of our university boss, Professor Jan Chajda, who talked to a fledgling entrepreneur at the time, declaring the production of gears in a very demanding class. He marveled at the machine tool and tools, until finally the professor asked: – How do you know what class it is, what do you measure it with? In response, he heard that the machine manufacturer declares this and therefore is it necessary to measure? The boss wondered for a moment and said: – You produce, but you don’t measure, so you don’t know what you produce, because it’s said that if you live but don’t measure, you’re dead...

Słowa kluczowe

PL

metrologia; historia metrologii; Metrologia 4.0

EN

metrology; history of metrology; Metrology 4.0

• Wydawca: ELAMED Media Group
• Czasopismo: Stal, Metale & Nowe Technologie
• Rocznik: 2021
• Tom: nr 3-4
• Strony: 67--74
• Opis fizyczny: Bibliogr. 28 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Wieczorowski Michał

• Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych, Politechnika Poznańska

Bibliografia

• 1. Hocken R.J., Pereira P.H. (eds.): Coordinate Measuring Machines and Systems. CRC Press, Boca Raton 2012.
• 2. Schwab K.: Czwarta rewolucja przemysłowa. Studio EMKA, 2018.
• 3. Wieczorowski M.: Chropowatość nie jest taka straszna… „Stal Metale & Nowe Technologie”, 1-2/2014, s. 58-62.
• 4. Wieczorowski M.: Przenośne przyrządy do pomiaru nierówności powierzchni. „Stal Metale & Nowe Technologie”, 3-4/2014, s. 99-102.
• 5.Pawlus P., Wieczorowski M., Mathia T.: The errors of stylus methods in surface topography measurements. ZAPOL, Szczecin 2014.
• 6. Gapiński B., Śmierzchalski D., Mendak M., Ziętkiewicz P., Wieczorowski M.: Bestykowe pomiary nierówności powierzchni – cz. I. „Stal Metale & Nowe Technologie”, 3-4/2019, s. 68-69.
• 7. Gapiński B., Śmierzchalski D., Mendak M., Ziętkiewicz P., Wieczorowski M.: Bestykowe pomiary nierówności powierzchni – cz. II. „Stal Metale & Nowe Technologie”, 5-6/2019, s. 134-135.
• 8. W900, materiały firmy Jenoptik.
• 9. Wieczorowski M.: Systemy do pomiaru topografii powierzchni. „Stal Metale & Nowe Technologie”, 5-6/2014, s. 138-142.
• 10. Wieczorowski M.: Trójwymiarowa analiza nierówności powierzchni. „Stal Metale & Nowe Technologie”, 7-8/2014, s. 22-25.
• 11. Miller T., Adamczak S., Świderski J., Wieczorowski M., Łętocha A., Gapiński B.: Influence of temperature gradient on surface texture measurements with the use of profilometry. „Bulletin of the Polish Academy of Sciences”, 65, 1, 2017, p. 53-61.
• 12. Wieczorowski M.: Metrologia nierówności powierzchni – metody i systemy. ZAPOL, Szczecin 2013.
• 13. ISO 25178-604:2013 Geometrical product specifications (GPS) – Surface texture: Areal – Part 604: Nominal characteristics of noncontact (coherence scanning interferometry) instruments.
• 14. TMS 500, materiały firmy Polytec.
• 15. ISO 25178-606:2013 Geometrical product specifications (GPS) – Surface texture: Areal – Part 606: Nominal characteristics of non-contact (focus variation) instruments.
• 16. Infinite Focus G5, materiały firmy Alicona.
• 17. Mendak M., Wieczorowski M., Grochalski K., Gapiński B.: Wiarygodność pomiaru geometrii freza kulistego oraz jej wpływ na nierówności powierzchni po frezowaniu kopiowym, przy wykorzystaniu mikroskopu różnicowania ogniskowego. „Mechanik”, 8-9/2018, s. 710-712.
• 18. Brzozowski D., Wieczorowski M., Gapiński B.: Pomiar geometrii i ocena powierzchni narzędzi za pomocą mikroskopu różnicowania ogniskowego. „Mechanik”, 11/2017, s. 1020-1022.
• 19. Analysis of cutting tools, materiały firmy Alicona.
• 20. Micro CMM, materiały firmy Alicona.
• 21. Venture Plus, materiały firmy Baty.
• 22. Opticline, materiały firmy Jenoptik.
• 23. Metrascan, materiały firmy Creaform.
• 24. Wieczorowski M., Pawlus P., Gapiński B.: Perspektywy współczesnej metrologii. „Mechanik”, 12/2019, s. 767-773.
• 25. Wieczorowski M., Szelewski M., Matuszak M., Pollak K.: Platforma do interakcyjnych analiz metrologicznych w koncepcji Przemysł 4.0 umożliwiająca zrobotyzowaną laserową digitalizację powierzchni w skali makro. Projekt RPWP.01.05.02-30-0065/18.
• 26. Gapiński B.: Obrazowanie i pomiary w technicznej tomografii komputerowej ze szczególnym uwzględnieniem przedmiotów wykonanych technikami przyrostowymi i analizy nierówności powierzchni. Wydawnictwo Studio Poligrafia, 2019.
• 27. Vtomex L, materiały firmy Waygate.
• 28. Vtomex M, materiały firmy Waygate.