Charakterystyka mineralogiczna obecnie stosowanych rud w hutnictwie żelaza

• Autorzy: Krztoń H. , Stecko J. , Gazdowicz J. , Kania Z.

Warianty tytułu

EN

Mineralogical characteristics of ores currently used in the iron and steel industry

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przeprowadzono badania składu mineralnego dla rud hematytowych kawałkowych z pięciu różnych złóż – trzech ukraińskich, jednego z RPA i z Liberii. Wykorzystano metodę dyfrakcji rentgenowskiej do identyfikacji minerałów oraz metodę Rietvelda do obliczenia udziałów poszczególnych składników mineralnych w badanych rudach. Zastosowano mikroskopię skaningową z analizą chemiczną w mikroobszarach do badania składu chemicznego minerałów.

EN

The investigations of mineral composition were carried out for lump hematite ores from five different deposits –three in Ukraine, one in South Africa, and one in Liberia. The X-ray diffraction method for identification of minerals and the Rietveld method for calculation of contents of individual mineral components in the ores under investigation were used. Scanning microscopy with chemical analysis in micro-areas was used for investigation of chemical compositions of minerals.

Słowa kluczowe

PL

rudy hematytowe kawałkowe; dyfrakcja rentgenowska; metoda Rietvelda; mikroskopia skaningowa; analiza chemiczna w mikroobszarach

EN

lump hematite ores; X-ray diffraction; Rietveld method; scanning microscopy; chemical analysis in micro-areas

• Wydawca: Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
• Czasopismo: Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
• Rocznik: 2014
• Tom: T. 66, nr 4
• Strony: 34--56
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., wykr., zdj.

Twórcy

autor

Krztoń H.

• Instytut Metalurgii Żelaza

autor

Stecko J.

• Instytut Metalurgii Żelaza

autor

Gazdowicz J.

• Instytut Metalurgii Żelaza

autor

Kania Z.

• Instytut Metalurgii Żelaza

Bibliografia

• 1. Gutkowska E.: Katalog rud żelaza, opr. Instytut Metalurgii Żelaza, Centrala Zaopatrzenia Hutnictwa, Gliwice 1984
• 2. Rietveld H.M.: Acta Crystallographica, 1967, Vol. 22, p. 151
• 3. Rietveld H.M.: Journal of Applied Crystallography, 1969, Vol. 2, p. 65
• 4. SIROQUANTTM Quantitative XRD Software, User’s Guide and Reference, Ver. 2.5 for Windows, 2000