PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Lutowia bezołowiowe nowej generacji - wytrzymałość na ścinanie wybranych połączeń metal/metal

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Lead free solders of a new generation - shear strength of selected metal/metal couples
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono zarówno wyniki badań wytrzymałości na ścinanie jak i badań mikrostruktury wybranych połączeń lutowie bezołowiowe/podłoże Cu. Badania wytrzymałości na ścinanie przeprowadzano na próbkach uzyskanych podczas badania zwilżalności. Do oceny wytrzymałości na ścinanie wykorzystano oryginalne oprzyrządowanie, opracowane w ITS przeznaczone do bezpośredniego zastosowania na maszynie wytrzymałościowej INSTRON 8874. Mikrostrukturę wybranych połączeń lutowie bezołowiowe/podłoże Cu oceniano metodami mikroskopii świetlnej i SEM w celu określenia składu fazowego. Uzyskane wyniki przeprowadzonych testów ścinania wskazują między innymi na wyższą wytrzymałość połączeń SnBi/Cu.
EN
In the paper the results of shear test as well as microstructure of selected couples of lead free solders/Cu substrate are presented. The shear tests were carried out using samples obtained during wetting investigations. Original instrumentation, elaborated in MTI and oriented to direct application on INSTRON 8874 testing machine for shear strength assessment was used. The microstructure of selected lead free solder/Cu substrate couples was assessed by means of light microscopy methods and SEM methods for phase identifications. The shear test results show, between others, the higher shear strength of couples SnBi/Cu.
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
77--88
Opis fizyczny
Bibliogr. 15 poz., rys., tab., zdj.
Twórcy
autor
  • Instytut Transportu Samochodowego
autor
  • Instytut Transportu Samochodowego
autor
  • Instytut Transportu Samochodowego
  • Instytut Transportu Samochodowego
  • Instytut Transportu Samochodowego
autor
  • Instytut Transportu Samochodowego
autor
  • Instytut Transportu Samochodowego
autor
  • Instytut Odlewnictwa
Bibliografia
  • [1] Clech J.P., Review and Analysis of Lead Free Solder Material Properties, www.metallurgy.nist.gov, 03.09.2004
  • [2] Frear D.R. et al, Pb-Free Solders for Flip-Chip Interconnects, JOM, vol. 53, No 6, 2001 pp. 28-32
  • [3] Harris P.G et al., Role of Intermetallic Compunds in Lead-Free Soldering, Soldering &, Surface Mount Technology, n.30 MCB Univ Press Ltd, Oct 1988, pp. 38-52
  • [4] Henderson D. et al., Ag3Sn Plate Formation in the Solidification of Near Ternary Eutectic Sn-Ag-Cu Alloys
  • [5] Kim K.S., Huh S.H. and Suganuma K., Effects of Cooling Speed on Microstructure and Tensile Properties of Sn-Ag-Cu Alloys, Osaka University, Japan, August 2002
  • [6] Kisiel R., i in., Badanie wpływu zawartości halogenków w topnikach na kinetykę zwilżania i właściwości połączeń lutowanych spoiwami bezołowiowymi, projekt badawczy KBN nr 8 T11B 052 10 (sn74397), Warszawa, 1997
  • [7] Le G.Y. et al - Ageing Effects on Shear Fatigue Life of Solder Joint between Pd/Ag conductor and Sn/Pb/Ag Solder, Proceedings of the Electronic Technology Conference, EPTC, IEEE, Singapore, 1997, pp. 102-107
  • [8] Lee N. H. - Lead-Free Chip-scale Soldering of Packages, Chip Scale, March-April 2000, http://www.chipscalereview.com/issues/0300/leadl6.html
  • [9] Mueller J. et al, Lead-Free Interconnection Technology and the Environment, Proceedings of MIDEM 2002 38th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Lipnica, Slovenia, 9-11 October 2002, pp. 47-56
  • [10] Properties of Lead-Free Solders - http//www.boulder.nist.gov/
  • [11] Salam B., Ekere N.N., Rajkumar D. - Study of Interface Microstructure of Sn-Ag-Cu Lead Free Solders and the Effect of Solder Volume on Intermetallic Layer Formation, Electronic Components and Technology Conference, 2001, Proceedings., pp. 471-477
  • [12] Seelig K., Suraski D., A Comparision of Tin-Silver-Copper Lead-Free-Solder Alloys http://www.aimsolder.com/techarticles/AIM_lead-free_guide.pdf, pp. 9-19
  • [13] Seelig K., Suraski D., Advanced Materials and Process Issues Lead-Free Electronics Assembly, April 2001
  • [14] Sokołowski. N, Lead-free Alloys and Limitations fo Surface Mount Asembly, Proceedings of Surface Mount International, 1995, pp. 477-480
  • [15] Test Method for Evaluation of Tin Wisker Growth on Plated Surfaces ftp://nemi.org/webdownload/projects/ese/Tin_whisker_test_methods.pdf, pp. 1-12
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-d687759c-6afe-4c92-9cee-2c15735d70d5
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.