Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Identyfikatory
Warianty tytułu
Statystyczna wiarygodność decyzjio wadliwości kontrolowanego procesu
Języki publikacji
Abstrakty
The article considers the issues of using control charts to detect the disruption of the technological process. The possible influence of measurement error on the correctness of decisions is considered. To ensure the statistical reliability of the decisions made, their plausibility, a priori probability is used. The effectiveness of assessing the compliance of the technological process with established standards is discussed, when the distributions of possible values of its parameters and errors of their measurements are uniform.
W artykule rozważono kwestie wykorzystania kart kontrolnych do wykrywania zakłóceń procesu technologicznego. Uwzględniono możliwy wpływ błędu pomiarowego na poprawność podejmowanych decyzji. Dla zapewnienia statystycznej wiarygodności podejmowanych decyzji wykorzystuje się ich prawdopodobieństwo a priori. Omówiono skuteczność oceny zgodności procesu technologicznego z ustalonymi standardami, gdy rozkłady możliwych wartości jego parametrów i błędów ich pomiarów są jednorodne.
Rocznik
Tom
Strony
5--9
Opis fizyczny
Bibliogr. 16 poz., tab., wykr.
Twórcy
autor
- National Technical University of Ukraine "Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute", Department of Information and Measuring Technologies, Kyiv, Ukraine
autor
- National Technical University of Ukraine "Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute", Department of Information and Measuring Technologies, Kyiv, Ukraine
autor
- Polish Metrological Society, Warsaw, Poland
Bibliografia
- [1] Aslam M., Saghir A., Ahmad L.: Introduction to Statistical Process Control. John Wiley & Sons, 2020.
- [2] Colosimo B. M., del Castillo E.: Bayesian Process Monitoring, Control and Optimization. CRC Press: United States 2007.
- [3] Horst R., Hans-Joachim M.: Statistisch Methoden der Qualitätssicherung. Carl Hansen Verlag, Munchen Wien 1995.
- [4] Johnson A. A., Ott M. Q., Dogucu M.: Bayes Rules! An Introduction to Applied Bayesian Modeling. CRC Press, United States 2022.
- [5] Khan I. et al.: Monitoring of manufacturing process using Bayesian EWMA control chart under ranked based sampling designs. Sci Rep 13, 2023, 18240 [https://doi.org/10.1038/s41598-023-45553-x].
- [6] Leon-Garcia A.: Probability, Statistics, and Random Processes for Electrical Engineering, 3rd edition. Pearson/Prentice Hall, USA 2008.
- [7] Mitra A.: Fundamentals of Quality Control and Improvement. John Wiley & Sons, 2016.
- [8] Montgomery D. C.: Introduction to Statistical Quality Control. 8th Edition. John Wiley & Sons, 2019.
- [9] Reza Maleki M., Amiri A., Castagliola P.: Measurement Errors in Statistical Process Monitoring: a Literature Review. Computers & Industrial Engineering 103, 2016, 316–329 [http://dx.doi.org/10.1016/j.cie.2016.10.026].
- [10] Volodarsky E., Warsza Z. L., Kosheva L.: Structural and algorithmic methods increasing reliability of measurement inspection. 25th National Scientific Symposium with int. participation: Metrology and Metrology Assurance, Sozopol, Sofia, Bulgaria, 2015, 55–59.
- [11] Volodarsky E., Warsza Z., Kosheva L., Idźkowski A.: Method of upgrading the reliability of measurement inspection. Jabłoński R., Brezina T. (Eds.): Advanced Mechatronics Solutions (Advances in Intelligent Systems and Computing 393). Springer 2016, 431–440.
- [12] Volodarsky E., Warsza Z., Kosheva L., Idźkowski A.: Precautionary statistical criteria in the monitoring quality of technological process. Szewczyk R., Kaliczyńska M. (Eds.): Recent Advances in Systems, Control and Information Technology. Int. Conference SCIT 2016, Warsaw, Poland, Springer Int. Pub. AG, 2017, 740–750 [https://doi.org/10.1007/978-3-319-48923-0].
- [13] Volodarsky E., Warsza Z., Kosheva L., Idźkowski A.: Transforming the conversion characteristic of a measuring system used in technical control. Szewczyk R., Kaliczyńska M. (Eds.): Recent Advances in Systems, Control and Information Technology. Proceeding of Int. Conference SCIT 2016, Warsaw, Poland, Springer Int. Pub. AG, 2017, 524–534 [https://doi.org/10.1007/978-3-319-48923-0].
- [14] Volodarskyi Y., Kozyr O., Kosheva L.: Impact of Measurement Procedure on Technological Process Control. XXXIV International Scientific Symposium Metrology and Metrology Assurance (MMA), Sozopol, Bulgaria, 2024, 1–5 [http://doi.org/10.1109/MMA62616.2024.10817633].
- [15] Volodarskyi Y., Kozyr O., Warsza Z. L.: Principal Components Method in Control Charts Analysis. Lecture Notes in Networks and Systems 630. Springer, Cham., 2023, 212–222 [https://doi.org/10.1007/978-3-031-25844-2_20].
- [16] Control charts – Part 2: Shewhart control charts, ISO 7870-2, 2013.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-d34e6e76-8e93-4edd-ab3b-32cd40e944b2
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.