Możliwości charakteryzacji ogniw słonecznych przy zastosowaniu techniki punktowego indukowania prądu wiązką laserową

• Autorzy: Chrobak Ł. B. , Madej W. , Maliński M. A.

Identyfikatory

DOI

10.15199/ELE-2014-149

Warianty tytułu

EN

Characterization possibilities of the solar cells based on the laser beam point induced current technique

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (13 ; 05-09.06.2014 ; Darłówko Wschodnie ; Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono stanowisko badawcze do badań rozkładu powierzchniowego wydajności prądowej ogniw słonecznych opartych na technice punktowego indukowania prądu ogniwa z wykorzystaniem wiązki laserowej. Praca przedstawia szczegółowy opis stanowiska badawczego oraz przykładowe wyniki w postaci map prądowych i napięciowych ogniw słonecznych. Przedstawione zostały możliwości interpretacyjne płynące z zastosowania omawianej techniki pomiarowej.

EN

This paper presents experimental set up for investigations of the spatial distribution of the light induced current and voltage of solar cells. Detailed experimental set up description and example results in the form of current and voltage solar cells maps have been included in this work. Interpretation possibilities connected with the used technique have been presented.

Słowa kluczowe

PL

metody nieniszczące; technika punktowego indukowania prądu wiązką laserową; fotowoltaika; krzem; ogniwa fotowoltaiczne

EN

nondestructive testing techniques; laser beam point induced current technique; fotovoltaics; silicon; solar cells

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2014
• Tom: Vol. 55, nr 9
• Strony: 111--112
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., il.

Twórcy

autor

Chrobak Ł. B.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Elektroniki i Informatyki

autor

Madej W.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Elektroniki i Informatyki

autor

Maliński M. A.

• Politechnika Koszalińska, Wydział Elektroniki i Informatyki

Bibliografia

• [1] C. R. Osterwald, (2003), “Standards, calibration and testing of PV modules and solar cells” (eds T. Markvart and L. Casta~ner), Practical Handbook of Photovoltaics, Elsevier, Kidlington Oxford, p. 793.
• [2] K. Emery, (2003), “Measurement and characterization of solar cells and modules” (eds A. Luque and S.Hegedus), Handbook of Photovoltaic Science and Engineering, John Wiley & Sons Ltd, Chichester, UK, p. 701.
• [3] P. Würfel, T. Trupke, T. Puzzer, E. Schäffer, W. Warta, and S. W. Glunz, J. Appl. Phys. 101, 123110, (2007).
• [4] J. A. Giesecke, M. Kasemann and W. Warta, J. Appl. Phys. 106, 014907 (2009).
• [5] A. Kaminski, et al., “Infrared characterization of hot spots in solar cells with high precision due to signal treatment processing,” Solar Energy Materials and Solar Cells 51, 1998 pp. 233–242.
• [6] H. Hoppe, J. Bachmann, B. Muhsin, K.-H. Drüe, I. Riedel, G. Gobsch et al., J. Appl. Phys. 107, 014505 (2010).
• [7] J. Bachmann, C. Buerhop-Lutz, C. Deibel, I. Riedel, H. Hoppe, C. J. Brabec et al., Sol. Energy Mater. Sol. Cells 94, 642, (2010).
• [8] Ł. Chrobak, M. Maliński, „Zastosowanie zjawiska modulacji absorpcji na nośnikach swobodnych do nieniszczących badań materiałów półprzewodnikowych”, Elektronika – technologie, konstrukcje, zastosowania LIII (12) (2012), 110–113.
• [9] Cole, Ed; et al. (2004), „Beam-Based Defect Localization Methods”, Microelectronics Failure Analysis (Materials Park: ASM International), ISBN 0-87170-804-3.
• [10] J. D. Zook, R. B. Maciolik, and J. D. Heaps, “Effects of Grain Boundaries in Polycrystalline Solar Cells,” Appl Phys. Lett. 37, 1980, pp. 223–226.
• [11] C. V. Hari Rao, H. E. Bates, and K. V. Ravi, “Electrical Effects of SiC Inclusions in EFG Silicon Ribbon Solar Cells”, J. Appl. Phys. 47, 1976, pp. 2614–2620.
• [12] C. Belouet, J. Hervo, R. Matres, N. T. Phuoc, and M. Pertus, “Growth and Characterization of Polysilicon Layers Achieved by the Ribbon-Against-Drop Process,” Proc. 13th IEEE Photovoltaics Specialists Conf., 1978, pp. 131–136.
• [13] W. D. Sawyer, “An Improved Method of Light-Beam-Induced Current Characterization of Grain Boundaries,” J. Appl. Phys. 59, 1986, pp. 2361–2368.
• [14] S. A. Galloway, A. W. Brinkman, K. Durose, P. R. Wilshaw, and A. J. Holland, “A Study of the Effects of Post-Deposition Treatment on CdS/CdTe Thin-Film Solar Cells Using High-Resolution OBIC,” Appl. Phys. Lett. 68,1996, pp. 3725–3727.