Skaningowa mikroskopia tunelowa – powierzchniowa metoda badawcza o atomowej rozdzielczości

• Autorzy: Żak J. , Ślęczkowski P.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Omawiana w niniejszym artykule skaningowa mikroskopia tunelowa była pierwszą metodą pozwalającą na badanie powierzchni z rozdzielczością mogącą osiągać poziom submolekularny. Taka precyzja daje możliwość monitorowania zjawisk zachodzących na granicy faz, które mają wielkie znaczenie dla rozwijającej się nanotechnologii oraz dla ulepszania obecnych procesów przemysłowych.

EN

Scanning Tunneling Microscopy that is discussed in the present article, is the only method enabling to probe the surfaces with resolution that may achieve submolecular level. Such precision gives the opportunity for monitoring of phenomena that occur at the phase boundary, which are of great importance for developing nanotechnology and for improvement of current industrial processes.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia ze skanującą sondą; SPM; skaningowa mikroskopia tunelowa; STM; metody badań powierzchniowych; nanotechnologia

EN

Scanning Probe Microscopy; SPM; Scanning Tunneling Microscopy; STM; surface science methods; nanotechnology

• Wydawca: ELAMED Media Group
• Czasopismo: Laboratorium - Przegląd Ogólnopolski
• Rocznik: 2013
• Tom: nr 3-4
• Strony: 16--19
• Opis fizyczny: rys.

Twórcy

autor

Żak J.

• Katedra Fizykochemii i Technologii Polimerów, Wydział Chemiczny, Politechnika Śląska, Gliwice

autor

Ślęczkowski P.

• Institut des Nanosciences de Paris - UMR 7588, Universite Pierre et Marie Curie, Paryż