Analiza właściwości optycznych oraz projektowanie półprzezroczystych cienkich warstw Ag w zakresie VIS-NIR

• Autorzy: Domaradzki J. , Kaczmarek D. , Mazur M. , Wojcieszak D. , Jędrzejak T.

Identyfikatory

DOI

10.15199/ELE-2014-112

Warianty tytułu

EN

Analysis of optical properties and designing of semitransparent Ag thin films in the VIS-NIR range

• Konferencja: Sympozjum "Fotowoltaika i Transparentna Elektronika : Perspektywy Rozwoju" (5 ; 24-27.04.2014 ; Świeradów Zdrój ; Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Cienkie warstwy srebra o grubości od kilku do kilkunastu nanometrów znajdują szerokie zastosowanie w konstrukcji różnych powłok optycznych. Warstwy takie, dzięki niewielkiej grubości charakteryzują się częściową przepuszczalnością dla światła w widzialnym zakresie widma promieniowania optycznego oraz zwiększonym odbiciem światła w zakresie bliskiej podczerwieni. Projektowanie powłok optycznych wymaga znajomości przebiegu charakterystyk dyspersji współczynników załamania i ekstynkcji światła, które w wypadku bardzo cienkich warstw mają inny przebieg niż obserwowany dla materiałów litych. W niniejszej pracy przedstawiono wyniki badania oraz analizy właściwości optycznych powłok Ag o grubości 5, 10 i 15 nm wytworzonych metodą parowania wiązką elektronową.

EN

Thin films of silver with the thickness about several nanometers find a broad application in the construction of different optical coatings. Such layers, thanks to the small thickness are characterized themselves by semi-transparency for light from the visible part of optical radiation and enhanced reflectivity in the near infrared range. For designing of optical thin films it is required to know the run of the dispersion of refractive and extinction coefficients characteristics which are different than for solid materials. In this work, the results of investigations and analysis of optical properties of Ag films with the thickness of 5, 10, 15 nm, prepared by electron beam evaporation have been presented.

Słowa kluczowe

PL

cienka warstwa; współczynnik załamania światła; srebro; parowanie wiązką elektronową

EN

thin film; refraction index; silver; electron beam evaporation

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2014
• Tom: Vol. 55, nr 8
• Strony: 70--72
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., wykr.

Twórcy

autor

Domaradzki J.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Kaczmarek D.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Mazur M.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Wojcieszak D.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Jędrzejak T.

• Liceum Ogólnokształcące, Ostrów Wielkopolski

Bibliografia

• [1] Ocean Optics, SSH, STAN-SSH High-reflectivity Specular ReflectancebStandard, http://www.oceanoptics.com/.
• [2] W. Theiss, Scout simulation and analysis software, http://www.wtheiss.com.
• [3] Film Star Design Software, FTG Ass., http://www.ftgsoftware.com/.
• [4] A. D. Rakić, A. B. Djurišic, J. M. Elazar, and M. L. Majewski, Optical properties of metallic films for vertical-cavity optoelectronic devices, Appl. Opt. 37, 5271–5283 (1998).
• [5] H.J. Hagemann, W. Gudat, and C. Kunz Optical constants from the far infrared to the x-ray region: Mg, Al, Cu, Ag, Au, Bi, C, and Al2O3, J. Opt. Soc. Am. 65, 742-744 (1975).
• [6] P. B. Johnson, R. W. Christy, Optical Constants of the Noble Metals, Phys. Rev. B6, 4370–4379 (1972).

Uwagi

PL

Praca była finansowana ze środków NCBiR jako projekt nr PBS2/A5/33/2013.