PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Wykorzystanie fal termicznych do badania warstw supertwardych

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Application of thermal waves for investigations of superhard films
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono możliwości wykorzystania fal termicznych do badania właściwości cienkich warstw materiałów supertwardych. Opisano podstawowe właściwości fal termicznych i zaprezentowano przykładowe wyniki pomiarów. Wykazano możliwość obrazowania struktury warstwy i podłoża, na które warstwa została naniesiona, analizy jednorodności grubości warstwy i pomiaru właściwości cieplnych warstw.
EN
Possibilities of using thermal waves for investigations of superhard films are presented. Basic properties of thermal waves are described and exemplary experimental results are presented. Possibilities of applying thermal waves for imaging of structure of the film and substrate, for analyzing of film thickness homogeneity and for determination of thermal properties of thin films are shown.
Rocznik
Tom
Strony
139--144
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Fizyki, Gliwice
autor
  • Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Urządzeń Mechanicznych OBRUM, Gliwice
  • Politechnika Ślaska, Instytut Mechanizacji Górnictwa, Gliwice
Bibliografia
  • [1] TOUZELBAEV M.N., GOODSON K.E.: Applications of micron-scale passive diamond layers for the integrated circuits and micromechanical systems industries, Diamond Relat. Mater. 7, 1-14 (1998).
  • [2] Nanotechnology in Materials Science, S. Mitura ed., Elsevier, Amsterdam 2000.
  • [3] BODZENTA J.: Fale termiczne w badaniach ciał stałych, Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej: Matematyka-Fizyka, z. 85, Gliwice 1999.
  • [4] WU D., ZZINGER G., KARPEN W., BUSSE G.: Nondestructive inspection of turbine blades with lock-in thermography, Materials Science Forum 210-213, 289-294 (1996)
  • [5] Schichtdickenmessung und Charakterisierung von Oberflächen mittels Oberflächenwellen. Teil 2: Photothermische Schichtdickenmessung. DIN 50992-2.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-d02ae696-87dc-4cc4-bc03-cb2c274e19f3
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.