Compact model for fast analytical evaluation of soft error rate in highly scaled memory circuits in space environment

• Autorzy: Zemtsov K. , Zebrev G. , Gorbunov M. , Maslovsky A.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2016.08.13

Warianty tytułu

PL

Kompaktowy model do szybkiej oceny analitycznej stopnia miękkiego błędu w wysoko przeskalowanych układach pamięci w przestrzeni kosmicznej

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

It is shown that traditional analytical formula for soft error rate estimation (figure-of-merit) in digital memories in space environment can lead to large uncertainties. An alternative approach, based on another representation of experimental data, has been proposed.

PL

Przedstawiono, że tradycyjna formuła analityczna do szacowania stopnia miękiego błędu (współczynnik jakości) w pamięci cyfrowej w przestrzeni kosmicznej może prowadzić do dużych niepewności. Zaproponowano alternatywne podejście, oparte na innych danych eksperymentalnych. kompaktowy model do szybkiej oceny analitycznej miękkie stopy błędu w bardzo skalowane układów pamięci w przestrzeni kosmicznej.

Słowa kluczowe

EN

figure-of-merit; single event upset; soft error rate; multiple cell upset

PL

współczynnik jakości; wielokomórkowe zakłócenie

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: R. 92, nr 8
• Strony: 48--51
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Zemtsov K.

• National Research Nuclear University MEPHI, Kashirskoye sh., 31, Moscow

autor

Zebrev G.

• National Research Nuclear University MEPHI, Kashirskoye sh., 31, Moscow

autor

Gorbunov M.

• Scientific Research Institute of System Analysis RAS, Nakhimovsky ave., 36, Moscow

autor

Maslovsky A.

• Zelenograd Research Institute of Physical Problems, Passage 4806, 6, Zelenodrad

Bibliografia

• [1] Guo J., Xiao L., Mao Z., Zhao Q., Enhanced Memory Reliability Against Multiple Cell Upsets Using Decimal Matrix Code, IEEE Trans. Nucl. Sci., 22, (2013), n.1,127-135
• [2] Petersen E.L., Langworthy J.B., Diehl S.E., Suggested Single Event Upset Figure of Merit,” IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-30, 4533, (1983)
• [3] Zebrev G.I., Gorbunov M.S., Useinov R.G., Emeliyanov V.V., Ozerov A.I., Anashin V.S., Kozyukov A.E., Zemtsov K.S., Statistics and methodology of multiple cell upset characterization under heavy ion irradiation, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Sec. A, 775 (2015), 41-45
• [4] Petersen E.L., Pickel J.C., Adams Jr. J.H., Smith E.C., Rate Prediction For Single Events-A Critique, IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-39, (1992), n.6, 1577-1599
• [5] Petersen E.L., The SEU Figure of Merit and Proton Upset Rate Calculations, IEEE Trans. Nucl. Sci., 45, (1998), n.6, 2550- 2562
• [6] Heidel D.F., Marshall P.W., LaBel K.A., Schwank J.R., Rodbell K.P., Hakey M., Berg M.D., Dodd P.E., Friendlich M.R., Phan A.D., Seidleck C.M., Shaneyfelt M.R., Xapsos M.A., Low energy proton single-event-upset test results on 65 nm SOI SRAM, IEEE Trans. Nucl. Sci., 55 (2008), n.6, 3259-3264
• [7] Haddad N., Bowman J., Brown R., Lawrence R., Rodgers J., Reed R., Traditional Methods Shortfall in Predicting Modem Microelectronics Behavior in Space, RADECS: Proceeding pp. 1-4, (2007)
• [8] Gorbunov M.S., Dolotov P.S., Antonov A.A., Zebrev G.I. et al., Design of 65 nm CMOS SRAM for Space Applications: a Comparative Study, IEEE Trans. Nucl. Sci., 61 (2014), n.4, 1575-1582

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.