Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 –przykłady pomiarów, certyfikowanym, polskim skanerem 3D firmy SMARTTECH

• Autorzy: Gębarski K. , Jasiński D.

Warianty tytułu

EN

Contactless measurement accuracy of polish 3D scanner, produced by SMARTTECH, according to VDI/VDE 2634 procedures - examples

• Konferencja: XII Forum Inżynierskie ProCAx, cz. II Kraków, 15-17 X 2013r.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono procedurę weryfikacji dokładności pomiarowej skanera 3D scan3D DUAL VOLUME według zaleceń niemieckiego PTB zgodnie z normą VDI/VDE 2634. Omówiono rodzaje błędów, które są wyznaczane podczas weryfikacji, oraz metodę ich wyznaczania. Zaprezentowano wzorce geometryczne służące do sprawdzania odchyłki płaskości i sferyczności oraz obliczania błędu długości skanera 3D. Dodatkowo wyjaśniono powody, dla których przeprowadza się certyfikację dokładności skanera 3D.

EN

The article is showing the verification procedure of the measuring accuracy of scanner 3 D, according to recommendations of the German PTB with VDI/VDE 2634 norm. Types of errors which are appointed during the verification were discussed and the method of appointing them. It was shown the geometrical tools used for checking the deviation of the flatness and curves and also presented calculations of 3D scanner long error. Additionally were explained reasons of the performance certification of the accuracy of the 3D scanner.

Słowa kluczowe

PL

skaner 3D; scan3D DUAL VOLUME; SMARTTECH; dokładność; certyfikat dokładności; wzorzec; objętość pomiarowa; odchyłka; PTB; VDI/VDE 2634

EN

3D scanner; scan3D DUAL VOLUME; SMARTTECH; accuracy; certificate of accuracy; calibrational model; measuring volume; deviation; PTB; VDI/VDE

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 87, nr 2CD
• Opis fizyczny: 7 s., Bibliogr. 2 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Gębarski K.

• SMARTTECH – Łomianki ul. Racławicka 30

autor

Jasiński D.

• SMARTTECH – Łomianki ul. Racławicka 30

Bibliografia

• 1. Ostrowska K., Szewczyk D., Sładek J. „Wzorcowanie systemów optycznych zgodnie z normami ISO i zaleceniami VDI/VDE".
• 2. Optische 3-D-Messsysteme - Bildgebende Systeme mit flächenhafter Antastung, VDI/VDE 2634 Blatt 2, 2012-08 r.