Intelligent redundant measuring circuit with primary circuit error detection

• Autorzy: Dominikowski Bartosz

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2022.12.53

Warianty tytułu

PL

Inteligentny nadmiarowy tor pomiarowy z wykrywaniem błędów toru podstawowego

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Wzmacniacze różnicowe w układach pomiarowych często narażone są na czynniki zewnętrzne, które mogą doprowadzić do zaburzenia ich prawidłowej pracy. Ze względu na możliwości układów mikroprocesorowych algorytmy inteligentne sprawdzają się systemach diagnostyki błędów obwodowych takich jak zwarcie lub przerwa obwodu. Do obwodu podstawowego dołączono grupę przełączników, które mają za cel sprawdzić stan gałęzi systemu pomiarowego. W przypadku wykrycia błędu pomiar przełączany jest na tor dodatkowy.

EN

Differential amplifiers in measuring systems are often exposed to external factors, which may lead to disturbance of their proper operation. Due to the capabilities of microprocessor systems, the intelligent algorithms work well in systems for diagnosing circuit errors such as a short circuit or a circuit break. A group of switches is connected to the primary circuit which are designed to check the condition of the measurement system branches. If an error is detected, the measurement of voltage is switched to the additional system.

Słowa kluczowe

PL

detekcja błędów; wzmacniacz; algorytm inteligentny

EN

error detection; amplifier; intelligent algorithm

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2022
• Tom: R. 98, nr 12
• Strony: 233--236
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Dominikowski Bartosz

• Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul. Stefanowskiego 18, 90-537 Łódź

• https://orcid.org/0000-0002-4762-2005

Bibliografia

• [1] Gizopoulos D., Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies; Springer: Dordrecht, The Netherlands, (2006)
• [2] Kabisatpathy P., Barua, A., Sinha S., Fault Diagnosis of AnalogIntegrated Circuits; Springer: Dordrecht, The Netherlands, (2005)
• [3] Fault-Diagnosis Systems: An Introduction from Fault Detection to Fault Tolerance, Springer, (2006)
• [4] Daniel Miller, Nick Scandy, Op Amp ESD Protection Structures, Texas Instruments Incorporated, (2020)
• [5] Michael Reid Maurice N. Collins Eric Dalton Jeff Punch David A. Tanner, Testing method for measuring corrosion resistance of surface mount chip resistors, Microelectronics Reliability, Volume 52, Issue 7, July (2012), 1420-1427
• [6] Michael Reid, Jeff Punch, Claire Ryan, John Franey, Gustav E. Derkits, Jr., William D. Reents, Jr., Luis F. Garfias The Corrosion of Electronic Resistors, IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, VOL. 30, NO. 4, DECEMBER 2007
• [7] Stanisław Osowski, Sieci neuronowe do przetwarzania informacji, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, (2006)
• [8] Andrzej Piegat, Fuzzy Modeling and Control, Springer, (2001)
• [9] Maria Mrówczyńska, Approximation abilities of neuro-fuzzy networks, Geodesy And Cartography, Vol. 59, No 1, (2010), 13-27
• [10] Mrówczyńska, M., Gil, J. System neuronowo-rozmyty w zastosowaniu do badań deformacji konstrukcji Mrówczyńska, Czasopismo Techniczne. Środowisko (2008), R. 105, z. 2-Ś, 215-221
• [11] Dudek G. Neuro-fuzzy approach to the next day load curve forecasting, Przegląd Elektrotechniczny, R. 87 NR 2, (2011) 61-64

Uwagi

Opracowanie rekordu ze środków MEiN, umowa nr SONP/SP/546092/2022 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2022-2023).