Contribution of electron tomography to development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics

• Autorzy: Kruk A. , Czyrska-Filemonowicz A.

Warianty tytułu

Wkład tomografii elektronowej do rozwoju innowacyjnych materiałów dla niskoemisyjnych systemów energetycznych i lotnictwa

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics requires use of modern research methods to characterize the structure on the level from micro- to nanoscale. Modern two-dimensional imaging techniques recently available in electron microscopes allow use of tomographic methods to characterize the structure of materials. Application of modern three dimensional imaging techniques such as electron tomography allows accurate qualitative and quantitative measurement of the structure elements in the micro- and nanoscale. The electron tomography studies have been carried out for three-dimensional visualization and metrology of different materials for clean energy systems and aeronautics. Electron tomography results provided quantitative data about shape, size and distribution of the particles, complementary to those obtained by means of quantitative TEM metallography.

PL

Rozwój innowacyjnych materiałów dla niskoemisyjnych systemów energetycznych i lotnictwa wymaga zastosowania nowoczesnych metod badawczych w celu scharakteryzowania struktury na poziomie od mikro- do nanoskali. Nowoczesne dwuwymiarowe techniki obrazowania od niedawna dostępne w mikroskopach elektronowych, umożliwiają zastosowanie metod tomograficznych do scharakteryzowania struktury materiałów. Zastosowanie nowoczesnych technik trójwymiarowego obrazowania, takich jak tomografia elektronowa umożliwia dokładny jakościowy i ilościowy pomiar elementów mikrostruktury w mikro- i nanoskali. Badania metodami tomografii elektronowej przeprowadzone zostały w celu trójwymiarowej wizualizacji i metrologii elementów mikrostruktury róznych materiałów konstrukcyjnych dla systemów niskoemisyjnej energetyki i lotnictwa. Badania metodami tomografii elektronowej dostarczaja danych ilościowych dotyczacych kształtów, wielkości i rozkładu przestrzennego cząstek i są one uzupełnieniem do danych uzyskiwanych za pomocą metod ilościowej analizy metalograficznej przy wykorzystaniu transmisyjnej mikroskopii elektronowej.

Słowa kluczowe

EN

TEM; STEM-HAADF; EFTEM; FIB-SEM; tomography

PL

TEM; STEM-HAADF; EFTEM; FIB-SEM; tomografia

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2013
• Tom: Vol. 58, iss. 2
• Strony: 387--392
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Kruk A.

• AGH University of Science and Technology, International Centre of Electron Microscopy for Materials Science & Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków, Poland

autor

Czyrska-Filemonowicz A.

• AGH University of Science and Technology, International Centre of Electron Microscopy for Materials Science & Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków, Poland

Bibliografia

• [1] A. Kruk, B. Dubiel, W. Osuch, G. Cempura, A. Czyrska-Filemonowicz, Inzynieria Materiałowa 30, 86 (2010).
• [2] B. Dubiel, A. Kruk, E. Stepniowska, G. Cempura, D. Geiger, P. Formanek, J. Hernandez, P. Midgley, A. Czyrska-Filemonowicz, Journal of Microscopy 236,149 (2009).
• [3] J. Frank, Electron Tomography: Three-dimensional Imaging with the Transmission Electron Microscope, 2nd ed., Plenum Press, New York, (2007).
• [4] P. A. Midgley, M. Weyland, Ultramicroscopy 96, 413 (2003).
• [5] R. Williams, D. Bhattacharyya, G. B. Viswanathan, R. Banerjee, H. L. Fraser, Microscopy and Microanalysis 10, 1178 (2004).
• [6] F. Lasagni, A. Lasagni, M. Engstler, H. P. Degischer, F. Mücklich, Advanced Engineering Materials 10, 62 (2008).
• [7] J. Orloff, M. Utlaut, L. Swanson, High Resolution Focused Ion Beam, Kluwer Academic Plenum Press 2003.
• [8] L. Giannuzzi, F. A. Stevie, Introduction to Focused ion Beams, Springer 2005.
• [9] J. Wosik, Evaluation of the long-term microstructural stability of selected Ni-base superalloys, PhD thesis, AGH Kraków 2002.
• [10] S. Milc, A. Kruk, G. Cempura, H. J. Penkalla, C. Thomser, A. Czyrska Filemonowicz, Physica Scripta T145, 1 (2011).
• [11] W. Osuch, A. Kruk, G. Michta, A. Czyrska-Filemonowicz, Solid State Phenomena 186, 41 (2012).
• [12] A. Czyrska-Filemonowicz, B. Dubiel, A. Wasilkowska, Zaroodporne i zarowytrzymałe stopy ODS umocnione nanoczastkami tlenków (Heat resistant ODS alloys strengthened by oxide nanoparticles), Fotobit, (2004).
• [13] B. Dubiel, A. Czyrska-Filemonowicz, Solid State Phenomena 186, 139 (2012).