Analiza dokładności pomiaru, względnego rozkładu egzytancji widmowej źródeł światła, dokonanego przy użyciu spektroradiometru kompaktowego

• Autorzy: Czech E. , Jaroszewicz Z. , Tabaka P. , Fryc I.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2015.04.38

Warianty tytułu

EN

Analysis of the impact of spectroradiometer bench on the measurement accuracy of the spectral power distribution of light sources

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono analizę wpływu właściwości spektralnych toru optycznego spektroradiometru (tj. układu siatka dyfrakcyjna, detektor CCD) na dokładność pomiarów rozkładów egzytancji widmowych współczesnych źródeł światła. Analizie zostały poddane układy elektrooptyczne spektroradiometrów zbudowane z różnych kombinacji siatek dyfrakcyjnych i detektorów.

EN

The paper presents an analysis of the impact of spectral properties of spectroradiometer electro-optical bench (ie. diffraction grating, CCD detector) on the measurement accuracy of spectral power distribution of light sources. Analysis were performed for electro-optical spectroradiometric systems which were built on different combinations of diffraction gratings and detektors.

Słowa kluczowe

PL

spektroradiometr; detektor; siatka dyfrakcyjna; źródło światła

EN

spectroradiometer; detector; diffracting grating; light source

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2015
• Tom: R. 91, nr 4
• Strony: 171--175
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., schem., wykr.

Twórcy

autor

Czech E.

• Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii, ul. Wiejska 45d, 15-351 Białystok

autor

Jaroszewicz Z.

• Instytut Optyki Stosowanej, ul. Kamionkowska 18, 03-805 Warszawa, Instytut Łączności, ul. Szachowa 1, 04-894 Warszawa

autor

Tabaka P.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektroenergetyki, 90-924 Łódź, ul. Bohdana Stefanowskiego 18/22

autor

Fryc I.

• Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny, Katedra Elektroenergetyki, Fotoniki i Techniki Świetlnej, ul. Wiejska 45d, 15-351 Białystok

Bibliografia

• [1] na podstawie danych zawartych w katalogu Hamamatsu: http://sales.hamamatsu.com/en/products/solid-statedivision/image-sensors/
• [2] Fryc I., „Istotne parametry spektroradiometru wielokanałowego”, Przegląd Elektrotechniczny, 4a/2012
• [3] Fryc I., Czyżewski D., „Dokładność pomiarowa spektroradiometrów typu CCD”, Przegląd Elektrotechniczny, 11/2009
• [4] Damman H., “Blazed Synthetic Phase-Only Holograms”, Optik 31, 95–104, (1970)
• [5] Ammer T., Rossi M., “Diffractive optical elements with modulated zone sizes”, J. Mod. Opt. 47, 2281-2293, (2000)
• [6] Minguez-Vega G., Thaning A., Climent V., Friberg A., Jaroszewicz Z., “Diffraction efficiency achromatization by random change of the blaze angle”, Proceedings of SPIE 4829, 1070-1072, (2003)
• [7] na podstawie danych zawartych w katalogu Edmund Optics http://www.edmundoptics.com/optics/gratings/reflective-ruleddiffraction-gratings/1896
• [8] Kostkowski H. J. „Reliable Spectroradiometry” Spectroradiometry Consulting, 1997
• [9] na podstawie danych zawartch w “Report of calibration of one standard of spectra irradiance OL 200M”, Optronic Laboratories, Inc.