PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Realizacja praktyczna układu do pomiaru parametrów cieplnych tranzystorów MOS mocy

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Practical realisation of set-up for the measurement of thermal parameters of power MOSFETs
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W pracy przedstawiono autorski system pomiarowy do wyznaczania parametrów cieplnych tranzystorów mocy MOSFET umieszczonych na wspólnym podłożu. Zaprezentowano koncepcję metody pomiarowej oraz układ umożliwiający wyznaczenie własnych i wzajemnych przejściowych impedancji termicznych tranzystorów MOSFET. Przedstawiono podstawowe informacje o zastosowanych komponentach układu pomiarowego oraz opisano autorskie oprogramowanie. Pokazano i przedyskutowano przykładowe wyniki pomiarów własnych i wzajemnych przejściowych impedancji termicznych.
EN
The paper presents an original measuring system for determining thermal parameters of power MOSFETs placed on a common base. The concept of the measurement method and the system enabling the determination of self and transfer transient thermal impedances of power MOSFETs are presented. Basic information about the applied components of the measuring system is presented and the proprietary software was described. Some measurements results of the self and transfer transient thermal impedance are shown and discussed.
Rocznik
Strony
143--146
Opis fizyczny
Bibliogr. 15 poz., rys.
Twórcy
  • Uniwersytet Morski w Gdyni, Wydział Elektryczny, Katedra Elektroniki Morskiej, ul. Morska 83, 81-225 Gdynia
  • Uniwersytet Morski w Gdyni, Wydział Elektryczny, Katedra Elektroniki Morskiej, ul. Morska 83, 81-225 Gdynia
  • Uniwersytet Morski w Gdyni, Wydział Elektryczny, Katedra Elektroniki Morskiej, ul. Morska 83, 81-225 Gdynia
Bibliografia
  • [1] R. Perret, Power electronics semiconductor devices. John Wiley & Sons, Hoboken, 2009.
  • [2] A. Castellazzi, Y.C. Gerstenmaier, R. Kraus and G.K.M. Wachutka, Reliability analysis and modeling of power MOSFETs in the 42-V-PowerNet, IEEE Transactions on Power Electronics, Vol. 21, 2006, No. 3, pp. 603-612.
  • [3] D. Schweitzer, F. Ender, G. Hantos, P.G. Szabo, Thermal transient characterization of semiconductor devices with multiple heat-sources – fundamentals for a new thermal standard, Microelectronics Journal, Vol. 46, 2015, pp. 174-182.
  • [4] P. Górecki, K. Górecki: Measurements and computations of internal temperatures of the IGBT and the diode situated in the common case. Electronics, Vol. 10, No. 2, 2021, 210,
  • [5] IRF840 HEXFET Power MOSFET, datasheet, International Rectifier, https://datasheet.octopart.com/IRF840PBF-Vishaydatasheet- 35178.pdf
  • [6] K. Posobkiewicz, K. Górecki: Influence of selected factors on thermal parameters of the components of forced cooling systems of electronic devices. Electronics, Vol. 10, No. 3, 2021, 340,
  • [7] D.L. Blackburn, Temperature measurements of semiconductor devices – A review”, 20th IEEE Semicon. Thermal Measur. and Menagement Symp. SEMI-THERM, San Jose, 2004, pp. 70-80.
  • [8] C.J.M. Lasance, A. Poppe: Thermal management for LED applications.; Springer Science+Business Media: New York, USA, 2014.
  • [9] K. Górecki, P. Ptak, T. Torzewicz, M. Janicki: Influence of a thermal pad on selected parameters of power LEDs. Energies, Vol. 13, No. 14, 2020, 3732
  • [10] USB 2404-60 USB-based Analog Input Device User’s Guide, Measurement Computing Corporation; Rev. 2A, Nov 2009.
  • [11] IRF840 HEXFET Power MOSFET, datasheet, International Rectifier, https://datasheet.octopart.com/IRF840PBF-Vishaydatasheet- 35178.pdf
  • [12] Extruded heat-sink Stonecold; https://www.tme.com/jp/ en/details/rad-a4240_50/radiators/stonecold/
  • [13] KAP 218 Fisher Elektronik; https://www.tme.eu/pl/details/kap- 218/radiatory-osprzet/fischer-elektronik/kap-218.
  • [14] Datasheet of Platinum Temperature Sensor PT1000-550, https://www.tme.eu/Document/67cf717905f835bc5efcdcd56ca3 a8e2/Pt1000-550_EN.pdf;
  • [15] https://sklep.introl.pl/produkty/Tasma-HB-250-0.95
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-c9c1f273-d9e6-496e-a0c4-76f0553a3ee1
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.