Methods of correction of typical defects in the digital images on the example of SEM images of anodic oxide layers

• Autorzy: Gądek-Moszczak A. , Korzekwa J.

Identyfikatory

DOI

10.4467/2353737XCT.16.116.5727

Warianty tytułu

PL

Metody korekty typowych wad obrazów cyfrowych na przykładzie orazów SEM anodowych warstw tlenkowych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper proposes one of the possible methods of image quality improvements. There are materials whose preparation for microstructure observation is difficult and, despite the effort, poor quality images are obtained. Computer image processing techniques allow for image transformation by means of various tools and obtaining much better images, with much more visible details than in the raw image. When it is impossible to prepare the sample better for microscopy observation and microstructural analysis, proper image processing is the only solution to gather information about the tested material.

PL

W artykule zaproponowano jedną z możliwych metod poprawy jakości obrazu. Istnieją materiały, których przygotowanie do obserwacji mikrostruktury jest trudne i w efekcie, pomimo najwyższej staranności, otrzymujemy obrazy o słabej jakości. Komputerowe techniki przetwarzania obrazu pozwalają na przekształcenie obrazów za pomocą różnorodnych narzędzi cyfrowej obróbki i uzyskanie obrazów o znacznie lepszej jakości niż obrazy bazowe. Techniki komputerowego przetwarzania i poprawy jakości obrazów stanowią cenne narzędzie w sytuacji, gdy nie jest możliwe powtórne przygotowanie próbek do obserwacji mikroskopowych i analizy mikrostruktury.

Słowa kluczowe

EN

image processing; image analysis; shade correction; noise; microstructure

PL

przetwarzanie obrazu; analiza obrazu; korekcja cienia; szum; mikrostruktura

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Krakowskiej im. Tadeusza Kościuszki
• Czasopismo: Czasopismo Techniczne. Mechanika
• Rocznik: 2016
• Tom: Y. 113, iss. 3-M
• Strony: 23--29
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Gądek-Moszczak A.

• Institute of Applied Informatics, Faculty of Mechanical Engineering, Cracow University of Technology

autor

Korzekwa J.

• Department of Surface Layer Technology, Faculty of Computer and Materials Science, University of Silesia

Bibliografia

• [1] Gądek A., Wojnar L., Wpływ sposobu 5. korekcji cienia i diboru metody detekcji na wyniki ilościowej oceny porowatości, Inżynieria Materiałowa, 3, 2003, 111-116 [in Polish].
• [2] Korzekwa J., Gądek-Moszczak A., M Bara, The influence of sample preparation on SEM measurements of anodic oxide layers, Practical Metallography, 53 (1), 20016, 3649.
• [3] Russ J.C., The Image processing handbook. Second Edition, CRC Press, Boca Raton, 1995.
• [4] Wojnar L., Kurzydłowski K.J., Szala J., Praktyka analizy obrazu, Polskie Towarzystwo Stereologiczne, Kraków 2002 [in Polish].

Uwagi

PL

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017)