PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The work presents the results of the applied surface pretreatment on topography and thickness of a passive layer of the anodically oxidized Ti6Al7Nb alloy. In our study were used: integrating sphere spectral measurements, bidirectional reflection distribution function (BRDF) method and optical profilometry. On the basis of the study, the passive layer thickness, roughness, waviness and the autocorrelation length were determined. The influence of voltage of anodization on topographical parameters of TiO2 has been discussed.
Czasopismo
Rocznik
Strony
173--180
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz., rys., tab., wykr.
Twórcy
  • Department of Biomaterials and Medical Devices Engineering, Faculty of Biomedical Engineering, Silesian University of Technology, ul. Konarskiego 18a, 44-100 Gliwice, Poland
autor
  • Institute of Physics, Cracow University of Technology, ul. Podchorążych 1, 30-084 Cracow, Poland
autor
  • Department of Biomaterials and Medical Devices Engineering, Faculty of Biomedical Engineering, Silesian University of Technology, ul. Konarskiego 18a, 44-100 Gliwice, Poland
autor
  • Institute of Physics, Cracow University of Technology, ul. Podchorążych 1, 30-084 Cracow, Poland
autor
  • Department of Biomaterials and Medical Devices Engineering, Faculty of Biomedical Engineering, Silesian University of Technology, ul. Konarskiego 18a, 44-100 Gliwice, Poland
Bibliografia
  • [1] MARCINIAK J., Biomateriały, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2002, (in Polish).
  • [2] SITTIG C., TEXTOR M., SPENCER N.D., WIELAND M., VALLOTTON P.-H., Surface characterization of implant materials c.p. Ti, Ti–6Al–7Nb and Ti–6Al–4V with different pretreatments, Journal of Materials Science: Materials in Medicine 10(1), 1999, pp. 35–46.
  • [3] KACZMAREK M., WALKE W., PASZENDA Z., Zastosowanie elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej do oceny odporności korozyjnej stopu Ni-Ti, Przegląd Elektrotechniczny 87(12B), 2011, pp. 74–77, (in Polish).
  • [4] NAWRAT G., SIMKA W., NIEUŻYŁA Ł., ZDZIECH I., Wpływ modyfikacji warstwy pasywnej implantów tytanowych na ich odporność korozyjną, Przemysł Chemiczny 85(8/9), 2006, p. 1204, (in Polish).
  • [5] KACZMAREK M., Investigation of pitting and crevice corrosion resistance of NiTi alloy by means of electrochemical methods, Przegląd Elektrotechniczny 86(12), 2010, pp. 102–105.
  • [6] VAN GILS S., MAST P., STIJNS E., TERRYN H., Colour properties of barrier anodic oxide films on aluminium and titanium studied with total reflectance and spectroscopic ellipsometry, Surface and Coatings Technology 185(2–3), 2004, pp. 303–310.
  • [7] SZEWCZENKO J., WALKE W., NOWIŃSKA K., MARCINIAK J., Corrosion resistance of Ti–6Al–4V alloy after diverse surface treatments, Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 41(5), 2010, pp. 360–371.
  • [8] AZZAM R.M.A., BASHARA N.M., Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam, 1987.
  • [9] JAGLARZ J., WAGNER T., CISOWSKI J., SANETRA J., Ellipsometric studies of carbazole-containing polymer layers, Optical Materials 29(7), 2007, pp. 908–912.
  • [10] ISO 5832-11:1994 Implants for surgery – Metallic materials – Part 11: Wrought titanium 6-aluminium 7-niobium alloy.
  • [11] ARECCHI A., CARR K.A., Guide to Integrating Sphere Theory and Application, Labsphere Technical Guide, 1997.
  • [12] JAGLARZ J., Description of topography of surfaces and thin films with the use Fourier transformation, obtained from non-standard optical measurements, [In] Fourier Transforms – New Analytical Approaches and FTIR Strategies, [Ed.] G. Nikolic, Intech Open Access Publisher, Rijeka, 2011.
  • [13] JAGLARZ J., Topography description of thin films by optical Fourier transform, Thin Solid Films 516(22), 2008, pp. 8077–8081.
  • [14] DAVIES H., The reflection of electromagnetic waves from a rough surface, Proceedings of the IEE – Part IV: Institution Monographs 101(7), 1954, pp. 209–214.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-c65d260e-c48f-4da7-849d-3ba46ceaada4
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.