Laboratory station for reliability testing of digital circuits using signature analysis

• Autorzy: Jadczak K. , Białek R.

Identyfikatory

DOI

10.2478/jok-2018-0009

Warianty tytułu

PL

Stanowisko laboratoryjne do badania niezawodności układów cyfrowych z wykorzystaniem analizy sygnatur

• Języki publikacji: EN PL

Abstrakty

EN

The article presented a laboratory station for diagnosing the digital circuits and the test results on the basis of a selected example. The idea of a response compression technique, which is called an analysis of signatures, was demonstrated. The main element of the station includes 8-bit programme of an analyser of signatures, which was developed by the authors, and implemented in the LabVIEW environment with the use of NI 6008 data analysis module. The programme operation was tested on the selected digital circuit, and the obtained results were provided in the article.

PL

W artykule zaprezentowano stanowisko laboratoryjne do diagnozowania układów cyfrowych oraz wyniki badań na wybranym przykładzie. Zaprezentowano ideę techniki kompresji odpowiedzi zwaną analizą sygnatur. Głównym elementem stanowiska jest opracowany przez autorów program 8-bitowego analizatora sygnatur wykonany w środowisku LabVIEW z wykorzystaniem modułu analizy danych NI 6008. Działanie programu przetestowano na wybranym układzie cyfrowym, a otrzymane wyniki zamieszczono w artykule.

Słowa kluczowe

EN

signature analysis; diagnosis of digital systems

PL

analiza sygnatur; diagnostyka układów cyfrowych

• Wydawca: Wydawnictwo Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych
• Czasopismo: Journal of KONBiN
• Rocznik: 2018
• Tom: No. 45
• Strony: 165--182
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Jadczak K.

• Military University of Technology, Wojskowa Akademia Techniczna

autor

Białek R.

• Military University of Technology, Wojskowa Akademia Techniczna

Bibliografia

• [1] Frohwerk, Robert A. "Signature analysis: A new digital field service method." Hewlett-Packard Journal 28.9 (1977): 2-8.
• [2] Chruściel, Marcin. LabVIEW w praktyce. Wydawnictwo btc, 2008.
• [3] Głocki, Wojciech. Układy cyfrowe: podręcznik dla technikum. WSiP, 1996.
• [4] Holdsworth, Brian, and Clive Woods. Digital logic design. Newnes, 2002.
• [5] Parchański, Józef. Miernictwo elektryczne i elektroniczne. WSiP, 2014.
• [6] Tłaczała, W. "Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym komputerowo Wyd." Naukowo Techniczne Warszawa (2002).
• [7] Wang, Francis. "BIST using pseudorandom test vectors and signature analysis." Custom Integrated Circuits Conference, 1988., Proceedings of the IEEE 1988. IEEE, 1988.