PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Study of an adaptive accelerated model and a data transfer method based on a Reliability Enhancement Test

Autorzy
Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Badania adaptacyjnego modelu przyspieszonego oraz metody transferu danych w oparciu o test poprawy niezawodności
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
To assess the reliability of a product using a Reliability Enhancement Test (RET), this study first considers the change process of the Arrhenius model parameters by combining the Arrhenius model with the Duane model and gives an adaptive accelerated model and a parameter estimation method. Then, the data transfer method from the RET to normal test stress are described based on the adaptive accelerated model. Finally, the differences observed when the RET is used for a reliability identity test or a reliability growth test are discussed, and an engineering case demonstrates a method for obtaining the reliability index of a product using the RET.
PL
Aby ocenić niezawodność produktu za pomocą testu poprawy niezawodności (Reliability Enhancement Test, RET), w badaniach najpierw rozważano proces zmiany parametrów modelu Arrheniusa poprzez połączenie modelu Arrheniusa z modelem Duane'a oraz przedstawiono adaptacyjny model przyspieszony i metodę oceny parametrów. Następnie, na podstawie adaptacyjnego modelu przyspieszonego opisano metodę transferu danych z RET do badań przy normalnym oddziaływaniu czynników zewnętrznych. Wreszcie, omówiono różnice obserwowane przy zastosowaniu RET do badań identyfikacyjnych niezawodności i badań wzrostu niezawodności. Na przykładzie zagadnienia inżynierskiego przedstawiono także metodę obliczania wskaźnika niezawodności produktu za pomocą RET.
Rocznik
Strony
128--132
Opis fizyczny
Bibliogr. 17 poz.
Twórcy
autor
  • Science and Technology on Integrated Logistics Support, Laboratory, National University of Defense Technology, Yanwachi str., 47 Changsha, 410073, P.R.China
autor
  • Science and Technology on Integrated Logistics Support, Laboratory, National University of Defense Technology, Yanwachi str., 47 Changsha, 410073, P.R.China
autor
  • Science and Technology on Integrated Logistics Support, Laboratory, National University of Defense Technology, Yanwachi str., 47 Changsha, 410073, P.R.China
autor
  • Science and Technology on Integrated Logistics Support, Laboratory, National University of Defense Technology, Yanwachi str., 47 Changsha, 410073, P.R.China
Bibliografia
  • 1. Duane JT. Learning Curve Approach to Reliability Monitoring . IEEE Trans Aerospace.1964.
  • 2. Hobbs GK. Accelerated Reliability Engineering HALT and HASS. John Wiley & Sons Ltd, New York 2000.
  • 3. HALT Guideline. QualMark Corporation. 2003
  • 4. Mclean H, Silverman M. From HALT Results to an Accurate Field MTBF Estimate. Proceeding Annual Reliability and Maintainability Symposium;2010 Jan 25–28;San Jose, CA.2010.
  • 5. Xie J. Determination of Acceleration Factor in Predicting the Field Life of Plated Through Holes From Thermal Stress Data. IEEE TRANSACTIONS AND PACKAGING TECHNOLOGIES, 2008.
  • 6. Silverman M. Summary of HALT and HASS Results at an Accelerated Reliability Test Center. Proceeding Annual Reliability and Maintainability Symposium. CA, USA 1998: 30–36.
  • 7. Connolly MP, Kenneth R. Can HALT and HAST Replace Some U.S. MIL-STD-331 Climatic Tests for Electronic Fuzes . NDIA 47th Annual Fuze Conference. NDIA, USA. 2000.
  • 8. Silverman M, Why HALT Cannot Produce a Meaningful MTBF Number and Why This Should not Be A Concern. 2009. Available from: http://http//www.opsalacarte.com
  • 9. Silverman M. Field Failure Rate Estimate from HALT Results. 2009. Available from: http://http//www.opsalacarte.com
  • 10. Celina M. Accelerated Aging and Lifetine Prediction: Review of Non-Arrhenius Behaviour due to Competing Processes. Degrad Stab. 2005; 90: 395–404.
  • 11. MIL-HDBK-189. Reliability Growth Management, 1981.
  • 12. MEI Wenhua. Reliability Growth Test. Beijing: National Defense Industry Press, 2003.
  • 13. Lantieri P, Dumon B. Applying Accelerated Life Models to HALT Testing. 9th ISSTIA International Conference on Reliability and Quality Design, 2003.
  • 14. Robert WD, Edward OM. Reliability Enhancement testing. Proceeding Annual Reliability and Maintainability Symposium. Anaheim, CA, USA.1994: 91–98.
  • 15. Schuller S. Determination of the Degradationg Constant of Bulk Heterojunction Solar Cells by Accelerated Lifetime Measurements. Appl. Phys. 2004; 79: 37–40.
  • 16. WANG Hong. Reliability Enhancement Testing and Its Application in Design and Production Phases of Radar . Modern Radar. 2008; 30: 26–28.
  • 17. Wei Li. Highly Accelerated Life Test for the Reliability Assessment of the Lead-Free SMT Mainboard. Microsystems, Packaging, Assembly Conference; 2006 Oct 18-20; Taiwan. 2006.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-c34d6232-7633-4f08-afbb-75dcb1418425
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.