Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym

• Autorzy: Andriyevsky B. , Patryn A. , Ciepluch-Trojanek W.

Warianty tytułu

EN

Spectroscopic ellipsometry of the ferroelectric crystals in the vacuum ultraviolet

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Badania kryształów ferroelektrycznych pozostają jednym z głównych kierunków współczesnej nauki o ciele stałym głównie dzięki zainteresowaniom mechanizmami mikroskopowymi przemian fazowych. Z tego względu ważne jest badanie struktury elektronowej pasmowej i osobliwości wiązań chemicznych międzyatomowych w kryształach ferroelektryków. Takie dane są niezbędne do wyjaśnienia osobliwości oddziaływania elektron-fononowego i ewentualnych mechanizmów strukturalnych przemian fazowych. Widma optyczne współczynnika odbicia R kryształów TGS w zakresie wzbudzenia elektronów walencyjnych były badane w zakresie energii fotonów E od 4 do 22 eV, głównie w pracach [1, 2]. Jednak metodyka pomiarów współczynników odbicia R(E) w tych pracach nie gwarantowała obliczenie przy pomocy relacji KramersaKroniga widm części rzeczywistej i urojonej przenikalności elektrycznej e1(E) i e2(E) kryształów TGS o wystarczająco wysokiej dokładności. W niniejszej pracy są przedstawione wyniki badań właściwości optycznych w zakresie wzbudzenia elektronów walencyjnych ferroelektrycznych kryształów siarczanu trójglicyny (TriGlycine Sulfate, TGS), (CH2NH2COOH)3×H2SO4, otrzymane metodą elipsometrii spektroskopowej z wykorzystaniem promieniowania synchrotronu BESSY-II w Berlinie. Ta metodyka, w porównaniu do stosowanej w pracach [1, 2], jest generalnie o wiele dokładniejsza.

Słowa kluczowe

PL

kryształy ferroelektryczne; funkcja dielektryczna; elipsometria; nadfiolet próżniowy; promieniowanie synchrotronowe

EN

ferroelectric crystals; dielectric function; ellipsometry; vacuum ultraviolet; synchrotron radiation

• Wydawca: Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
• Rocznik: 2009
• Tom: Nr 1
• Strony: 75--86
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., rys., wykr., tab.

Twórcy

autor

Andriyevsky B.

• Wydział Elektroniki i Informatyki Politechnika Koszalińska ul. Śniadeckich 2, 75-453 Koszalin, Polska

autor

Patryn A.

• Wydział Elektroniki i Informatyki Politechnika Koszalińska ul. Śniadeckich 2, 75-453 Koszalin, Polska

autor

Ciepluch-Trojanek W.

• Wydział Elektroniki i Informatyki Politechnika Koszalińska ul. Śniadeckich 2, 75-453 Koszalin, Polska

Bibliografia

• [1] Romanyuk N. A., Andriyevsky B. V., Zheludev I. S., Ferroelectrics 21 (1978) 333.
• [2] Andriyevsky B. V, Romanyuk N. A., Optics and Spectroscopy 48 (1980) 785.
• [3] Kronig R. L., J. Opt. Soc. Am. + Rev. Sci. Instr. 12 (1926) 547.
• [4] Drude P., Ann. Phys. Chem. 36 (1889) 865.
• [5] Azzam R. M. A., Bashara N. B., Ellipsometry and polarized light (North-Holland Personal Library, Amsterdam, 1987).
• [6] Zettler J. T., Progr. Cryst. Growth and Charac. Mat. 35 (1998) 1.
• [7] Hunter W. R., Appl. Opt. 17 (1978) 1259.
• [8] Hass G., Hunter W. R., Appl. Opt. 17 (1978) 76.
• [9] Horton V. G., Arakawa E. T., Hamm R., Williams M., Appl. Opt. 8 (1968) 667.
• [10] Romanyuk N. A., Kostetskii A. M., Andriyevsky B. V., Physics of Solid State 19 (1977) 3095.
• [11] Andriyevsky B., Esser N., Patryn A., Cobet A., Ciepluch-Trojanek W., Romanyuk M., Physica B 373 (2006) 328.
• [12] Faltermeier D., Gompf B., Dressel M., Tripathi M., Pflaum J., Phys. Rev. B 74 (2006), art. no. 125416.
• [13] Aspnes D. E., JOSA Letters 70 (1980) 1275.
• [14] Hingel K. , Aspnes D. E., Kamiya J., Florez L. T., Appl. Phys. Lett. 63 (1993) 885.
• [15] Andriyevsky B., Ciepluch-Trojanek W., Cobet C., Patryn A., Esser N., Phase Transition 81 (2008) 949.