Optica Applicata - Tom Vol. 43, nr 1 (2013) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 43, nr 1

Czasopismo

Optica Applicata

Wydawca

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Rocznik

2013

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 43, nr 1
- artykuł: Ohmic contacts for room-temperature AlGaAs/GaAs quantum cascade lasers (QCL) (Baranska A, Szerling A, Karbownik P, Hejduk K, Bugajski M, Laszcz A, Golaszewska-Malec K, Filipowski W), s. 5--15
- artykuł: Properties of thin films of high-k oxides grown by atomic layer deposition at low temperature for electronic applications (Gieraltowska S., Wachnicki Ł., Witkowski B. S., Godlewski M., Guziewicz E.), s. 17--25
- artykuł: Influence of high Al fraction on reactive ion etching of AlGaN/GaN heterostructures (Gryglewicz J, Stafiniak A, Wosko M, Prazmowska J, Paszkiewicz B), s. 27--33
- artykuł: Measurements of AlGaN/GaN heterostructures for sensor applications (Hojko M R, Paszuk D, Paszkiewicz B), s. 35--38
- artykuł: Influence of a charge region on the operation of InGaAs/InAlAs/InP avalanche photodiodes (Jurenczyk J, Zak D, Kaniewski J), s. 39--46
- artykuł: Two-dimensional modeling of surface photovoltage in metal/insulator/n-GaN structure with cylindrical symmetry (Matys M, Powroznik P, Powroznik P, Kupka D, Adamowicz B), s. 47--52
- artykuł: Oscillator strength of optical transitions in InGaAsN/GaAsN/GaAs quantum wells (Mika A, Sek G, Ryczko K, Kozub M, Musial A, Marynski A, Misiewicz J, Langer F, Höfling S, Appel T, Kamp M, Forchel A), s. 53--60
- artykuł: Influence of AlN spacer on the properties of AlGaN/AlN/GaN heterostructures (Wosko M, Paszkiewicz B, Paszkiewicz R, Tlaczala M), s. 61--66
- artykuł: Chemical analysis of Ti/Al/Ni/Au ohmic contacts to AlGaN/GaN heterostructures (Macherzynski W, Indykiewicz K, Paszkiewicz B), s. 67--72
- artykuł: Gallium oxide buffer layers for gallium nitride epitaxy (Korbutowicz R, Wnek J, Panachida P, Serafinczuk J, Srnanek R), s. 73--79
- artykuł: Annealing time effects on the surface morphology of C–Pd films prepared on silicon covered with SiO2 (Kozlowski M., Radomska J., Wronka H., Czerwosz E., Firek P., Sobczak K., Dluzewski P.), s. 81--89
- artykuł: Formation of Cr ohmic contact on graphitized 6H-SiC(0001) surface (Grodzicki M, Mazur P, Wasielewski R, Ciszewski A), s. 91--98
- artykuł: TiO2 thin films grown on SiO2–Si(111) by the reactive evaporation method (Grodzicki M, Wasielewski R, Mazur P, Zuber S, Ciszewski A), s. 99--107
- artykuł: Influence of RF ICP PECVD process parameters of diamond-like carbon films on DC bias and optical emission spectra (Oleszkiewicz W, Markowski J, Srnanek R, Kijaszek W, Gryglewicz J, Kovac J, Tlaczala M), s. 109--115
- artykuł: Magnetic properties and surface domain structure of (Nd0.85Dy0.15)10Fe83Zr1B6 thin ribbons (Ceglarek A, Plusa D, Dospial M, Nabialek M, Wieczorek P), s. 117--122
- artykuł: Morphological, topographical and FTIR characterizations of Pd–C films (Rymarczyk J., Kamińska A., Kęczkowska J., Kozłowski M., Czerwosz E.), s. 123--132
- artykuł: Temperature-induced changes in the topography and morphology of C–nPd films deposited on fused silica (Diduszko R., Kowalska E., Kozłowski M., Czerwosz E., Kamińska A.), s. 133--141
- artykuł: Properties of hydroxyapatite layers used for implant coatings (Dudek A, Adamczyk L.), s. 143--151
- artykuł: Photocatalytic properties of Ti–V oxides thin films (Domaradzki J, Mazur M, Sieradzka K, Wojcieszak D, Adamiak B), s. 153--162
- artykuł: Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change (Sikora A), s. 163--171
- artykuł: Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys (Szewczenko J., Jaglarz J., Basiaga M., Kurzyk J., Paszenda Z.), s. 173--180
- artykuł: Raman spectroscopy of CdTe/ZnTe quantum dot structures (Zielony E, Placzek-Popko E, Kamyczek P, Henrykowski A, Karczewski G), s. 181--185
- artykuł: Temperature-dependence of cathodoluminescence of zinc oxide monolayers obtained by atomic layer deposition (Witkowski B. S., Wachnicki L., Nowakowski P., Suchocki A., Godlewski M.), s. 187--194
- artykuł: The MFM studies of the surface domain structure of Sm–Fe–Co–Zr–Cu thin ribbons (Dośpiał M., Nabiałek M., Szota M., Michta Ł., Wieczorek P., Błoch K., Pietrusiewicz P., Oźga K., Michalczyk J.), s. 195--200

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.