Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis

• Autorzy: Ossowski M. , Korzybski M.

Warianty tytułu

PL

Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem technik drążenia danych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper deals with feature selection of testing signals used for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple two stages fault diagnostic strategy for circuits with limited access to internal nodes is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithm enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, is prepared under assumption, that input data sets are extracted from DC analysis.

PL

W artykule przedstawiono dwuetapowy algorytm detekcji I lokalizacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych, oparty o pewne techniki drążenia danych i elementy teorii systemów szarych. Założono ograniczony dostęp do punktów wewnętrznych oraz możliwość analizy dynamicznej i stałoprądowej badanych układów.

Słowa kluczowe

EN

fault diagnosis; feature selection; tolerance; catastrophic faults; grey system theory

PL

diagnostyka uszkodzeń; selekcja cech; tolerancja; uszkodzenia katastroficzne; teoria systemów szarych

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 2a
• Strony: 285--287
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., schem., tab.

Twórcy

autor

Ossowski M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź

autor

Korzybski M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź

Bibliografia

• [1] Ossowski M., Kuczyński A., Detekcja I lokalizacja uszkodzeń układów analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów, Przegląd Elektrotechniczny, vol.11, 2009.
• [2] Julong D., Introduction of Grey System, Journal of Grey System, vol.1, no.1, 1989.
• [3] Liu H., Chen G. A, Survey of Feature Extraction Approches in Analog Circuit Fault Diagnosis, IEEE P-A Workshop on Computational Intelligence and Industrial Application, pp.676-679, 2008.
• [4] Yang C.Y., Chou J.J. Entropy on Grey Relational Analysis. Journal of Grey System, vol.14, no.4, 2001.
• [5] Hsu C-J., Huang Chin-You, Improving effort Estimation Accuracy by Weighted Grey Relational Analysis During Software Development, Proc. of 14-th IEEE A-P Software Engineering Conference, pp.534-541, 2007.
• [6] Ripley B.D., Pattern Recogniction and Neural Networks, Cambridge University Press, 1996.
• [7] Sobczak W, Malina W., Methods of selection and reduction of information, WNT, Warsaw, 1985.
• [8] Ossowski M., Improving neural network methods for time domain fault analysis of nonlinear analog circuits by feature selection, Elektronika 2010, R.51 nr 12 pp.36-39, 2010.
• [9] Ossowski M, Kuczyński A., DWT Algorithm for Fault Detetion and Localization, Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems, Kraków, pp.549-555, 2008.
• [10] Dragic M., Margala M., Power Supply Current Test Approach for Resistive Fault Screening in Embeded Analog Circuits, Proceedings of the 18tth IEEE International Symposium od Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2003.