PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Symulacja obwodu z kwantowaną przewodnością

Autorzy
Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Simulation of circuit with quantized conductance
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W pracy przedstawiono model kwantowanej przewodności zrealizowany w środowisku symulacyjnym APLAC. Model kwantowanej przewodności oparty został na istniejących w programie modelach rezystora oraz przełącznika. Wykorzystano właściwości tych modeli odpowiednio modyfikując wartości ich parametrów tak, aby uzyskać efekt rozwierania styków i powstawania nanodrutów, oraz odwzorować zjawisko skokowej zmiany rezystancji (kwantowa zmiany przewodności). Przedstawiono wyniki symulacji komputerowej obwodu z zamodelowanym elementem zestyku o charakterze nanodrutu. Analizowano warunki zmiany charakteru układu pomiarowego z aperiodycznego w oscylacyjny.
EN
In this paper APLAC user model of quantized conductance was described. This model is based on resistor model and switch model included in APLAC. Proprieties of these models were modified to get an unshort contacts effect and simulate creating nanowire effect to show phenomenon quantum conductance. The simulation results of circuit with model of quantum conductance were described. Used model simulate quantum conductance effect, which can be observed between two metal wires during unclenching. Conditions of creating periodic and non-periodic character of circuit were studied.
Wydawca
Rocznik
Strony
86--88
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz., rys., wykr., wzory
Twórcy
autor
  • Politechnika Poznańska
Bibliografia
  • [1] APLAC 7.51 Reference Manual, Programming, Analysis and Optimization, vol. 1, Aplac Solutions Corporation, Espoo, Finland, 2000.
  • [2] Hansen K. Quantized conductance in relays, Phys. Rev. B, vol. 56, 1997, s. 2208.
  • [3] Michalak S., Pająkowski J., Symulacja stanów przejściowych w obwodach z kwantowaną przewodnością, Elektronika, nr 5, 2006, s. 12-14.
  • [4] Michalak S., Model przewodności kwantowanej w programie APLAC, Elektronika, nr 5, 2006, s. 36-38.
  • [5] Michalak S., Symulacja układów elektronicznych w śodowisku APLAC, WPP, Poznań , 2005.
  • [6] Nawrocki W., Wawrzyniak M., Zjawiska kwantowe w metrologii elektrycznej, WPP, Poznań , 2003.
  • [7] Pająkowski J., Nawrocki W., Wawrzyniak M., Stany nieustalone w obwodach z kwantowaną rezystancją , Elektronizacja, nr 3, s. 19-21, 2002.
  • [8] Wawrzyniak M., System pomiarowy do badania trwałości nanodrutów, Elektronizacja, nr 9, 2001, s. 8-10.
  • [9] Wawrzyniak M., Pająkowski J., System pomiarowy do badania stanów nieustalonych w obwodach z QPC, Pomiary Automatyka Kontrola, nr 7/8, 2002, s. 113-116.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-c09d5853-805c-4109-a095-22c78c3810cb
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.