Badania i pomiary emisji elektromagnetycznej z układów scalonych

• Autorzy: Kołodziejski J. F. , Kuciński S.

Warianty tytułu

EN

Measurements of electromagnetic emission from integrated circuits

• Konferencja: Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC'99 (I ; 7-8.10.1999 ; Dobieszków, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy omówiono pokrótce źródła i mechanizmy powstawania elektromagnetycznych sygnałów zakłócających emitowanych przez układy scalone. Zasadniczą cześć pracy poświecono przedstawieniu opracowywanych i stosowanych już metod pomiaru emitowanych sygnałów przewodzonych i promieniowanych. Wskazano możliwości redukcji poziomów emitowanych sygnałów zakłócających i dalsze kierunki prac.

EN

The aim of this work is to review some investigation and measurement methods of electromagnetic interference emissions from integrated circuits. In the first part sources and mechanisms of the emission was shortly described. Then the measurement methods - both already known or being under development- for conducted and radiated emissions were presented in details. Some remarks on the possibilities of reduction of the emission levels and further works directions are also given.

Słowa kluczowe

PL

układy scalone; sygnały zakłócające; sygnały przewodzone; sygnały promieniowane; emisja elektromagnetyczna; metody pomiaru

EN

integrated circuits; interference emissions; conducted emissions; radiated emissions; electromagnetic emission; measurement methods

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka
• Rocznik: 1999
• Tom: z. 93
• Strony: 7--16
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz.

Twórcy

autor

Kołodziejski J. F.

• Instytut Technologii Elektronowej Warszawa

autor

Kuciński S.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki Warszawa

Bibliografia

• [1] R. DeMoor, J.C. Perrindntegrated circuit design for reduced EMI.EMC Engineering March 1999, 11-18
• [2] W.R. Pfaff: Application Independent Evaluation of Electromagnetic Emissions for Integrated Circuits by the Measurement of Conducted Signals. IEEE International Symposium on EMC 1998, 219-224
• [3] A. Nakamura: EMC Conscious Semiconductor &Low Noise Assembly Technology. Hitachi Ltd., Materiały robocze Grupy Roboczej WG 9/SC 47A IEC, marzec 1999
• [4] M. Lubineau et all.: On the Measurement of EMC in Integrated Circuits. EMC Zurich Symposium 1999, 649-652
• [5] J. Curtis: What Chip Designers Can Do to Lower Emissions. International Product Compliance March-April 1999, 17-22
• [6] S.B. Worm: On the relation between radiated and conducted RF emission tests. EMC Zurich Symposium 1999, 515-520
• [7] J.F. Kołodziejski: Noise measurement problems in digital circuits. II Seminarium Miernictwo Sygnałów Przypadkowych, Gdańsk 17-18 czerwca 1997, 34-38