Chemical etching for antireflective, gradient n, layer preparation on glass surface

• Autorzy: Marszalek Konstanty W. , Dyndał Katarzyna , Szczepanik Waldemar

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2024.12.39

Warianty tytułu

PL

Trawienie chemiczne jako sposób uzyskania n gradientowych warstw antyrefleksyjnych na szkle

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents optical properties and applications of a new method of preparing glass plate with anti-reflective properties. In particular, the fabrication of a single-layer anti-reflective system obtained by chemical etching is described. Changes in the optical properties of such a system associated with changes in the thickness of the anti-reflective layer resulting from etching time are shown. A wide range of applications of such a system is presented, resulting from many times lower manufacturing costs.

PL

W artykule przedstawiono właściwości optyczne i zastosowania nowej metody przygotowania płytki szklanej o właściwościach antyrefleksyjnych. W szczególności opisano wytwarzanie jednowarstwowego układu antyrefleksyjnego otrzymanego metodą trawienia chemicznego. Przedstawiono zmiany właściwości optycznych takiego układu związane ze zmianami grubości warstwy antyrefleksyjnej wynikające z czasu trawienia. Przedstawiono szeroki zakres zastosowań takiego układu, wynikający z wielokrotnie niższych kosztów wytwarzania.

Słowa kluczowe

EN

anti-reflective coating; chemical etching; optical properties; transmittance

PL

warstwa antyrefleksyjna; chemiczne trawienie; właściwości optyczne; transmitancja

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2024
• Tom: R. 100, nr 12
• Strony: 169--172
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Marszalek Konstanty W.

• AGH University of Krakow, Institute of Electronics, Al. Mickiewicza 30, Kraków, Poland

• https://orcid.org/0000-0002-0564-5743

autor

Dyndał Katarzyna

• AGH University of Krakow, Institute of Electronics, Al. Mickiewicza 30, Kraków, Poland

• https://orcid.org/0000-0003-2874-5760

autor

Szczepanik Waldemar

• Safiro Nutrition Sp. z o.o. sp. K., Wola Dalsza 369, 37-100 Łańcut, Poland

Bibliografia

• [1] M. Lorens et al., “Micropatterning of silicon surface by direct laser interference lithography,” Acta Phys. Pol. A, vol. 121, no. 2, pp. 543–545, 2012, doi: 10.12693/APhysPolA.121.543.
• [2] K. Marszałek, P. Winkowski, and J. Jaglarz, “Optical properties of the Al2O3/SiO2 and Al2O3/HfO2/SiO2 antireflective coatings,” Mater. Sci. Pol., vol. 32, no. 1, pp. 80–87, 2014, doi: 10.2478/s13536-013-0156-y.
• [3] G. Wroblewski et al., “Graphene platelets as morphology tailoring additive in carbon nanotube transparent and flexible electrodes for heating applications,” J. Nanomater., vol. 2015, pp. 1–8, 2015, doi: 10.1155/2015/316315.
• [4] NSG-Group, “Technical Bulletin, Properties of soda-lime silica float glass,” Toledo, Ohio, 2013.
• [5] K. Dorywalski and A. Patryn, “Technika elipsometrii spektroskopowej jako metoda monitorowania jakości powierzchni materiałów grupy SrxBa1-xNb2O6,” Przegląd Elektrotechniczny, vol. R. 90, nr, pp. 22–25, 2014.
• [6] G. Lewińska et al., “Investigation of dye dopant influence on electrooptical and morphology properties of polymeric acceptor matrix dedicated for ternary organic solar cells,” Polymers (Basel)., vol. 13, no. 23, 2021, doi: 10.3390/polym13234099.
• [7] D. S. S. Almeida et al., “Ellipsometric characterization of surface films on AZ31 magnesium alloy exposed to a Na2SO4 solution,” J. Mater. Res. Technol., vol. 9, no. 5, pp. 10175–10183, 2020, doi: 10.1016/j.jmrt.2020.07.030.
• [8] J. N. Hilfiker, J. A. Woollam, and M. R. Linford, “Using Interference Enhancement to Increase the Information Content of Spectroscopic Ellipsometry Measurements,” Vac. Technol. Coat., no. August, 2022, [Online]. Available: www.vtcmag.com
• [9] J. Jaglarz, T. Wagner, J. Cisowski, and J. Sanetra, “Ellipsometric studies of carbazole-containing polymer layers,” Opt. Mater. (Amst)., vol. 29, no. 7, pp. 908–912, 2007, doi: 10.1016/j.optmat.2006.02.003.
• [10] G. E. Jellison, T. Aytug, A. R. Lupini, M. P. Paranthaman, and P. C. Joshi, “Optical properties of a nanostructured glass-based film using spectroscopic ellipsometry,” Thin Solid Films, vol. 617, pp. 38–43, 2016, doi: 10.1016/j.tsf.2015.12.046.
• [11] D. Ngo et al., “Spectroscopic ellipsometry study of thickness and porosity of the alteration layer formed on international simple glass surface in aqueous corrosion conditions,” npj Mater. Degrad., vol. 2, no. 1, pp. 1–9, 2018, doi: 10.1038/s41529-018- 0040-7.

Uwagi

Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa nr POPUL/SP/0154/2024/02 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki II" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2025).