Model of a computer support for the design of AOI systems aimed at the detection of surface defects

• Autorzy: Wójcicki T.

Warianty tytułu

PL

Model komputerowego wspomagania projektowania systemów AOI detekcji wad powierzchniowych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The article presents an original model supporting the design of AOI systems aimed at the detection of surface defects. The analysis of the state of the art shows that the problem of the design of automated systems employing noninvasive measurement methods, including AOI methods, dedicated to specialist tasks connected with surface quality control, is actually a prospective future research direction, as it is directly connected with the need to speed up and rationalise the design processes. The research problem presented in the article was defined through the determination of the scope of automated tasks aimed at the support of the design of AOI systems and methods for their execution. The research method consisted in the analysis of the available numerical methods and computer simulations enabling the selection of the solution facilitating the effectiveness of the decision-making process.

PL

Artykuł przedstawia autorski model wspomagania projektowania systemów AOI przeznaczonych do detekcji wad powierzchniowych. Analiza stanu wiedzy wskazuje, że problematyka projektowania zautomatyzowanych systemów wykorzystujących nieinwazyjne metody pomiarowe, w tym metody AOI, dedykowanych do specjalizowanych zadań związanych z kontrolą jakości powierzchni jest perspektywicznym kierunkiem w rozwoju badań naukowych, co spowodowane jest koniecznością przyśpieszenia i jakościowego usprawnienia procesów projektowania. Problem badawczy podejmowany w artykule określony został poprzez ustalenie zakresu zautomatyzowanych działań, których celem jest wspomaganie prac projektowych nad systemami AOI oraz metod przeznaczonych do ich realizacji. Metoda badawcza polegała na przeprowadzeniu analizy dostępnych metod numerycznych, oraz symulacji komputerowych w celu wyłonienia rozwiązania, umożliwiającego skuteczne wspomaganie procesów decyzyjnych.

Słowa kluczowe

EN

expert system; automatic optical inspection; quality control; designing

PL

system ekspertowy; inspekcja automatyczna optyczna; kontrola jakości; projektowanie

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej
• Czasopismo: Diagnostyka
• Rocznik: 2013
• Tom: Vol. 14, No. 3
• Strony: 35--40
• Opis fizyczny: Bibliogr. 16 poz., rys.

Twórcy

autor

Wójcicki T.

• Institute For Sustainable Technologies – National Research Institute in Radom, Pułaskiego 6/10, 26-600 Radom, Poland, (48) 3644241 int. 261

Bibliografia

• [1] Przybylski W., Technologia maszyn i automatyzacja produkcji. Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, Gdańsk, 2001.
• [2] Gawęcka J., Jędryka T., Analiza sensoryczna. Wybrane metody i przykłady zastosowań. Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej w Poznaniu, Poznań, 2001.
• [3] Hamrol A., Zapewnienie jakości w procesach wytwarzania. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań, 1995.
• [4] Batchelor B., Waltz F., Intelligent machine vision. Springer-Verlag Limited 2001, pp. 18-20.
• [5] Malamas E., Petrakis E., Zervakis M., A survey on industrial vision systems applications and tools. Image and Vision Computing 21(2), 2003.
• [6] Mery D., Berti M., Automatic detection of welding defects using texture features. Insight 45(10), 2003.
• [7] Yan T.S., Cui D.W., The method of intelligent inspection of product quality based on computer vision. 7th Int. Conf. on Computer-Aided Industrial Design and Conceptual Design (CAIDCD '06), Hangzhou, 2006.
• [8] Meola C., Carlomagno G., Squillace A., Vitiello A., Non-destructive evaluation of aerospace materials with lock-in thermography. Engineering Failure Analysis, vol. 13, issue 3, 2006.
• [9] Shih-Chieh L., Chih-Hisien C., Chia-Hsin S., A development of visual inspection system for surface mounted devices on printed circuit board. Proceedings of the 33rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON) Taipei, Taiwan, 2007.
• [10] Gąsiorek E., Podstawy projektowania inżynierskiego. Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej we Wrocławiu, Wrocław, 2006.
• [11] Gawrysiak M., Mechatronika i projektowanie mechatroniczne. Politechnika Białostocka, Białystok, 1997.
• [12] Kwaśnicka H., Sztuczna inteligencja i systemy ekspertowe: rozwój, perspektywy. Wydawnictwo Wyższej Szkoły Zarządzania i Finansów we Wrocławiu, Wrocław, 2005.
• [13] Kelton D., Law M., Simulation Modeling and Analysis. Third Edition, McGraw-Hill, 2000.
• [14] Russell S., Norvig P., Artificial Intelligence. A Modern Approach Third Edition, Prentice-Hall, 2010.
• [15] Tadeusiewicz R., Korohoda P., Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów. Wydawnictwo Fundacji Postępu Telekomunikacji, Kraków, 1997.
• [16] Hundt Ch., Liśkiewicz M.:, Two-Dimensional Pattern Matching with Combined Scaling and Rotation. Springer, Berlin, 2008.