Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu do badania powierzchni pyłów powstających w procesach spalania

• Autorzy: Grams J. , Bawolak K.

Warianty tytułu

EN

An application of fime-of-flight secondary ion mass spectrometry in the surface studies of particles formed in combustion processes

• Konferencja: Zjazd Polskiego Towarzystwa Chemicznego oraz Stowarzyszenia Inżynierów i Techników Przemysłu Chemicznego (51; 07-11.09.2008 ; Opole, Polska)
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

jony wtórne; spektrometria; spalanie

EN

secondary ion; spectrometry; combustion

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przemysł Chemiczny
• Rocznik: 2009
• Tom: T. 88, nr 8
• Strony: 934--938
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., il.

Twórcy

autor

Grams J.

• Instytut Chemii Ogólnej i Ekologicznej, Wydział Chemiczny, Politechnika Łódzka, ul. Żeromskiego 116, 90-924 Łódź

autor

Bawolak K.

• Politechnika Łódzka, Łódź

Bibliografia

• 1. J.C. Vickerman, D. Briggs, TOF-SIMS Surface analysis by mass, IM Publications and SurfaceSpectra Limited, Chichester 2001 r.
• 2. J. Grams, New trends and potentialities of ToF-SIMS in surface studies, Nova Science Publishers Inc., New York 2007 r.
• 3. R.E. Peterson, B.J. Tyler, Appl. Surf. Sci. 2003, 203-204, 751.
• 4. R.E. Peterson, B.J. Tyler, Atmos. Environ. 2002, 36, 6041.
• 5. P. Lazzeri, G. Clauser, E. Iacob, A. Lui, G. Tonidandel, M. Anderle, Appl. Surf. Sci. 2003, 203–204, 767.
• 6. B. Tomiyasu, K. Suzuki, T. Gotom, M. Owari, Y. Nicei, Appl. Surf. Sci. 2004, 231-232, 515.
• 7. R. Van Ham, A. Adriaens, L. Van Vaeck, F. Adams, J. Aerosol Sci. 2000, 31, 396.
• 8. R. Van Ham, A. Adriaens, P. Prati, A. Zucchiatti, L. Van Vaeck, F. Adams, Atmos. Environ. 2002, 36, 899.
• 9. P. Konarski, M. Ćwil, I. Iwanejko, A. Mierzejewska, R. Diduszko, Thin Solid Films 2004, 459, 86.
• 10. P. Konarski, I. Iwanejko, A. Mierzejewska, R. Diduszko, Vacuum 2001, 63, 679.
• 11. P. Konarski, I. Iwanejko, M. Ćwil, Vacuum 2003, 70, 385.
• 12. T. Sakamoto, K. Shibata, K. Takanashi, M. Owari, Y. Nicei, Appl. Surf. Sci. 2003, 203-204, 762.
• 13. S. Oishi, M. Shirahase, M. Sado, R. Oiwa, Appl. Surf. Sci. 2003, 203-204, 772.
• 14. L.S. Johansson, C. Tallin, B. Leckner, P. Sjövall, Biomass. Bioenerg. 2003, 25, 435.
• 15. J. Grams, K. Bawolak, Pol. J. Chem. Technol. 2007, 9, nr 4, 77.