Tytuł artykułu
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
In-pixel digital CDS circuit for CMOS image sensor
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule zaproponowano cyfrowy układ CDS (Correlated Double Sampling) przeznaczony do przetwornika obrazu CMOS. Układ różni się od klasycznych rozwiązań tym, że dwie pamięci przechowujące próbki sygnału wizyjnego zastąpiono jednym licznikiem rewersyjnym. Dzięki tej modyfikacji możliwa jest znaczna redukcja powierzchni układu CDS i umieszczenie go w każdym pikselu przetwornika obrazu CMOS. System został zaprojektowany i przesymulowany w technologii CMOS 180 nm.
In this paper a digital CDS (Correlated Double Sampling) circuit for the CMOS image sensor is proposed. This circuit differs from the conventional solutions in that the two memories, storing video samples, are replaced by a reversible counter. This modification enables a significant reduction in the area and it makes possible to put the CDS in each pixel. The system has been designed and simulated in 180 nm CMOS technology.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
83--85
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Politechnika Gdańska, Katedra Systemów Mikroelektronicznych
autor
- Politechnika Gdańska, Katedra Systemów Mikroelektronicznych
autor
- Politechnika Gdańska, Katedra Systemów Mikroelektronicznych
autor
- Politechnika Gdańska, Katedra Systemów Mikroelektronicznych
Bibliografia
- [1] Gamal A.E., Eltoukhy H., CMOS image sensors, IEEE Circuits & Devices Magazine, May/June (2005), 6-20
- [2] Jendernalik W., Blakiewicz G., Jakusz J., Szczepański S., Piotrowski R., An Analog Sub-Miliwatt CMOS Image Sensor with Pixel-Level Convolution Processing, IEEE Trans. Circuits Syst. I, 60 (2013), no. 2, 279-289
- [3] Jakusz J., Jendernalik W., Blakiewicz G., Piotrowski R., Szczepański S., Ultra low power analogue CMOS vision chip, Przegląd Elektrotechniczny, nr 10 (2011), 88-91
- [4] Lee D., Cho K., Kim D., Han G., Low-Noise In-Pixel Comparing Active Pixel Sensor Using Column-Level Single-Slope ADC, IEEE Trans. Electron Devices, 55 (2008), no. 2, 3383-3388
- [5] Lopich A., Dudek P., A SIMD Cellular Processor Array Vision Chip With Asynchronous Processing Capabilities, IEEE Trans. Circuits Syst. I, 58 (2011), no. 10, 2420-2431
- [6] Yoshihara S., Nitta Y., et. all, A 1/1.8-inch 6.4 MPixel 60 frames/s CMOS Image Sensor With Seamless Mode Change, IEEE J. Solid-State Circuits, 41 (2006), no. 12, 2998-3006
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-b5f5c815-7d89-46a1-9124-73b5baa649c4