Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Identyfikatory
Warianty tytułu
A test stand for measuring nonuniformity correction coefficients of microbolometer detectors
Języki publikacji
Abstrakty
Korekcja niejednorodności kamer detektorów matryc mikrobolometrycznych to problem z którym borykają się konstruktorzy współczesnych kamer termowizyjnych. Stanowisko pomiarowe oparte na zintegrowanym dwupowierzchniowym ciele doskonale czarnym pozwala na wyznaczanie współczynników korekcji niejednorodności. Przedstawiona konstrukcja oraz wyniki badań ciała doskonale czarnego pozwoliły na uzyskanie wyników jednorodności rozkładu temperatury na jego powierzchni na poziomie ±0.0110.015ºC. Przeprowadzone pomiary współczynników niejednorodności detektorów matrycy mikrobolometrycznej potwierdzają poprawność koncepcji działania stanowiska pomiarowego.
Modern microbolometer array detectors commonly used to sense infrared radiation in 8 - 12 µm range exhibit a non-uniform response of particular array pixels for the same incident power. As a result of this non-uniformity an image degradation called the fixed pattern noise (FPN) occurs. It introduces an additional error component in the thermal representation of the observed scene, thus worsening the performance of an IR camera. In order to compensate this non-uniformity, several correction methods can be employed. Those methods usually base on laboratory measurements on specialized test stands, in which precise blackbody radiation sources are key metrological elements. The presented dual emitter blackbody set meets the high requirements of a standard blackbody for metrological applications. The design of emitters and the applied method of temperature stabilization ensure high uniformity and stability of the temperature distribution over the entire blackbody surface, which was positively verified during laboratory measurements. As a result, the presented blackbody can be used to perform non-uniformity correction of microbolometer focal plane arrays.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
958--961
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., tab., wykr., wzory
Twórcy
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. gen. S.Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa
Bibliografia
- [1] Orżanowski T., Sosnowski T., Kastek M.: Implementacja algorytmu korekcji niejednorodnosci odpowiedzi matrycy mikrobolometrycznej w układzie programowalnym, Pomiary Automatyka Kontrola nr 8, s. 526÷528, 2008.
- [2] Bareła J., Firmanty K., Kastek M., Polakowski H.: Wzorce promieniowania podczerwonego używane do kalibracji urządzeń termowizyjnych, Biuletyn WAT Vol. LXI, Nr 2, str. 81-91, 2012.
- [3] Bareła J., Firmanty K., Kastek M., Polakowski H.: Precyzyjne ciało czarne z półprzewodnikowymi modułami termoelektrycznymi, Pomiary Automatyka Kontrola nr 06, s. 562-565 2010.
- [4] Bareła J., Firmanty K., Kastek M., Polakowski H.: Weryfikacja parametrów wzorców promieniowania podczerwonego, Pomiary Automatyka Kontrola nr 10, s. 1130-1133, 2011.
- [5] Bieszczad G., Sosnowski T., Madura H., Kastek M., Firmanty K.: The calibration stand for thermal camera module with infrared focal plane array, Proc. of SPIE Vol. 7660, 76603Y (2010).
- [6] Bieszczad G., Orżanowski T., Sosnowski T., Kastek M.: Method of detectors offset correction in thermovision camera with uncooled microbolometric focal plane array, Proceedings of SPIE Vol. 7481, 74810O (2009).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-b355a943-fdfa-49a0-9ff7-c2bc677ec6d0