PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Bit error notification and estimation in redundant successive-approximation ADC

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Powiadomienie o błędzie bitowym i ocena w stopniowej redundantnej aproksymacji ACP
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The article is devoted to research on thepossibilities to useredundant number systems for bit error notification in a successive-approximation ADC during the main conversionmode. The transfer function of a successive-approximation ADC with anon-binary radix is analyzed. If the radixisless than 2,not all possible code combinations appear on the converter output. The process of formation of unused combinations is investigated. Therelationship between the bit’s deviations and the list of unused combinations is established. The possibilities of estimating the bit error value without interrupting the process of analog-to-digital conversion isconsidered.
PL
Artykuł jest poświęcony badaniu możliwości wykorzystania redundantnych systemów liczbowych do powiadamiania o błędach bitowych wstopniowej aproksymacji ACP podczas konwersji głównej. Analizowana jest funkcja transferu stopniowej aproksymacji ACP z niebinarną podstawą. Jeśli podstawa jest mniejsza niż 2, nie wszystkie możliwe kombinacje kodów pojawią się na wyjściu konwertera. Badany jest proces tworzenia nieużywanych kombinacji, i ustalane są relacje między odchyleniami bitu a listą nieużywanych kombinacji. Autorzy również przeanalizowali możliwości oceny wartości błędu bitowego bez przerywania procesu konwersji analogowo-cyfrowej.
Rocznik
Strony
29--32
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., wykr.
Twórcy
  • Vinnytsia National Technical University, Department of Computer Facilities,Vinnytsia, Ukraine
  • Vinnytsia National Technical University, Department of Computer Facilities,Vinnytsia, Ukraine
Bibliografia
  • [1] Chakradhar A., Rajesh Kumar Srivastava, Sreenivasa Rao Ijjada: Calibration Techniques of Analog to Digital Converters (ADCs). International Journal of Innovative Technology and Exploring Engineering 8, 2019, 415–419.
  • [2] Hae-Seung Lee.: A Self-calibrating 15-bit CMOS A/D Converter. IEEE J. Solid- State Circuits 19(6), 1984, 813–817.
  • [3] Hae-Seung Lee, Hodges D. A.: Self-calibration technique for A/D converters. IEEE Transactions on circuits and systems 30(3), 1983, 188–190.
  • [4] Khen-Sang Tan, Kiriaki S., de Wit M.: Error correction techniques for high-performance differential A/D Converters. IEEE J. Solid-State Circuits 25(6), 1990, 1318–1327.
  • [5] McCreary J. L.: Matching properties, and voltage and temperature dependence of MOS capacitors. IEEE J. Solid-State Circuits 16, 1981, 608–616.
  • [6] McNeill J., Coln M. C. W., Larivee B. J.: “Split ADC” Architecture for Deterministic Digital Background Calibration of a 16-bit 1-MS/s ADC. IEEE J. Solid-State Circuits 40(12), 2005, 2437–2445.
  • [7] Zakharchenko S., Zakharchenko M., Humeniuk R.: Method of determining the unused combinations in the ADC of successive approximation with weight redundancy. International Conference Methods and Means of Encoding, Protection and Compression of Information (MMEPCI 2017), 114–117.
Uwagi
Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa Nr 461252 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2021).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-b2d9a2d1-fe17-4e30-8d84-902e404d3bc0
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.