Zautomatyzowane stanowisko do identyfikacji charakterystyki przetwarzania precyzyjnego generatora odcinków czasu

• Autorzy: Grzęda G. , Kwiatkowski P. , Szplet R. , Różyc K. , Jachna Z.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2017.12.65

Warianty tytułu

EN

Automated test setup for transfer characteristic recognition of precise time interval generator

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono budowę, zasadę działania oraz wyniki badań zautomatyzowanego stanowiska do identyfikacji charakterystyki przetwarzania precyzyjnego generatora odcinków czasu. Z uwagi na bardzo dużą liczbę nastaw syntezera DDS użytego do budowy generatora, wyznaczenie tej charakterystyki w drodze pomiarów wykonywanych manualnie jest bardzo czasochłonne. Duża powtarzalność uzyskanych wyników umożliwia zapis wyznaczonej charakterystyki przetwarzania w pamięci generatora i wybór odpowiednich nastaw pozwalających uzyskać najmniejsze rozmycie czasowe wytwarzanych odcinków czasu.

EN

We present the design, principle of operation and test results obtained in automated test setup for transfer characteristic recognition of precise time interval generator. Due to a very large number of phase steps in DDS synthesizer that was used in the generator, manual measurement process is time consuming and automatic test setup is recommended. As the obtained results are highly repeatable it can be used to build an array of DDS phase settings that ensure lowest timing jitter of output pulses.

Słowa kluczowe

PL

stanowisko testujące; generator; syntezer DDS

EN

test equipment; generator; DDS synthesizer

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2017
• Tom: R. 93, nr 12
• Strony: 277--280
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Grzęda G.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Telekomunikacji, Zakład Techniki Cyfrowej, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

autor

Kwiatkowski P.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Telekomunikacji, Zakład Techniki Cyfrowej, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

autor

Szplet R.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Telekomunikacji, Zakład Techniki Cyfrowej, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

autor

Różyc K.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Telekomunikacji, Zakład Techniki Cyfrowej, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

autor

Jachna Z.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Telekomunikacji, Zakład Techniki Cyfrowej, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

Bibliografia

• [1] Kalisz J., Poniecki A., Różyc K., A simple, precise, and low jitter delay/gate generator, Rev. Sci. Instrum., 74 (2003), n. 7, pp 3507-3509
• [2] Kwiatkowski, P., Jachna, Z., Różyc, K., Kalisz, J., Accurate and low jitter time-interval generators based on phase shifting method, Rev. Sci. Instrum., 83 (2012), n. 3, 034701/1-4
• [3] Suchenek, M., Starecki, T., Programmable pulse generator based on programmable logic and direct digital synthesis, Rev. Sci. Instrum., 83 (2012), n. 12, 124704/1-4
• [4] Kwiatkowski, P., Różyc, K., Sawicki M., Jachna, Z., Szplet R., 5 ps jitter programmable time interval/frequency generator, Metrol. Meas. Syst., 24 (2017), n. 1, 57–68
• [5] 1 GSPS, 14-Bit, 3.3 V CMOS Direct Digital Synthesizer, Datasheet, Analog Devices, 10.2016: http://www.analog.com/media/en/technicaldocumentation/ data-sheets/AD9910.pdf
• [6] Agilent Technologies Infiniium 90000 Series Oscilloscopes Data Sheet, Agilent Technologies, Inc. 2012
• [7] Stroustrup B., The C++ Programming Language, wyd. 4, Pearson Education, 2013
• [8] SCPI specification, 02.2016: http://www.ivifoundation.org/scpi/default.aspx
• [9] Gamma E., Helm R., Johnson R., Vlissides J.M., Design Patterns: Elements of Reusable Object-Oriented Software, wyd. 1, Addison-Wesley
• [10] Szplet R., Time-to-Digital Converters, chapter VII in Design, Modeling and Testing of Data Converters, edited by Carbone P., Kiaei S., F. Xu, Springer, 2014