PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

MOSFET parameter extraction with EKV model

Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
Evolutionary Computation and Global Optimization 2009 / National Conference (12 ; 1-3.06.2009 ; Zawoja, Poland)
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
This paper reports results of an ongoing research on MOSFET parameter extraction using the EKV model. This work continues efforts in finding the best method for efficient and robust parameter extraction based on voltage-current structure characteristics. In the extraction process, voltage-current characteristics are matched by the characteristics generated by the model. Values of parameters for which the best match is observed are the result of the extraction. The extraction process is considered an optimization problem, which is then solved by an evolutionary algorithm followed by the Nelder-Mead simplex. The influence of the measurement error on the extraction results is investigated experimentally.
Rocznik
Tom
Strony
9--17
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., tab., wykr.
Twórcy
autor
autor
Bibliografia
  • [1] EKV Authors webpage. http://legwww.epfl.ch/ekv/people.html.
  • [2] J. Arabas and S. Szostak. Hybrid Evolutionary Algorithm in MOSFET parameter extraction. Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej, Elektronika, 2008.
  • [3] J. Arabas, S. Szostak, L. Łukasiak, and A. Jakubowski. Studies of the feasibility of using global and local optimization methods in MOSFET characterization. Elektronika, I, 2008.
  • [4] M. Bucher, C. Lallement, F. Theodoloz, C. Enz, and F. Krummenacher. The EPFL-EKV MOSFET model equations for simulation, version 2.6. 1997. http://legwww.epfl.ch/ckv/pdf/ekv_v262.pdf.
  • [5] C. Enz, F. Krummenacher, and E. Vittoz. An analytical MOS transistor model valid in all regions of operation and dedicated to low-voltage and low-current applications. Journal on Analog Integrated Circuits and Signal Processsing, pages 83-114, 1995.
  • [6] J.A. Nelder and R. Mead. A simplex method for function minimization. The Computer Journal, pages 308-313, 1965.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA9-0038-0001
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.