Wyznaczanie skrajnych odchyłek parametrów charakterystyki częstotliwościowej filtrów eliptycznych realizowanych na bazie struktur bikwadratowych

• Autorzy: Pasko M. , Adrikowski T.

Warianty tytułu

EN

Calculate the extreme deviations of the parameters of frequency characteristics the elliptic filters realized on the basis of the biquadratic structures

• Konferencja: Wybrane Zagadnienia Elektrotechniki i Elektroniki - WZEE'2004 / Seminarium (V ; 26-28.04.2004 ; Rzeszów - Iwonicz, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przeprowadzono analizę wrażliwości filtrów eliptycznych realizowanych z użyciem struktur bikwadratowych. Analizę ograniczono do przypadku filtru znormalizowanego parzystego rzędu. Zdefiniowano odpowiednią klasę współczynników wrażliwości. Z ich użyciem wyznaczono poziom skrajnych niepewności parametrów charakterystyki dla określonego rozrzutu wartości parametrów struktur. Ponadto przeanalizowano jak zmieniają się niepewności parametrów charakterystyki w zależności od rzędu r oraz projektowego współczynnika k filtru.

EN

In this article the analytic of the sensitivity of elliptic filters realized on the basis of the biquadratic structures was conducted. This analyze was limited to the case the normalized filter of the even order. The proper class of the coefficients of sensitivity was defined. By using them it was set the level of extreme deviations of the parameters this characteristic for specified spread of averages the values of the structures parameters. Moreover it was analyzed the changes of uncertainly the value of the parameters depending on order r und the design coefficient k of the filter.

Słowa kluczowe

PL

filtry eliptyczne; analiza wrażliwości; współczynniki wrażliwości

EN

elliptic filter; sensivity analysis; sensivity coefficients

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika
• Rocznik: 2004
• Tom: z. 26 [214]
• Strony: 123--132
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Pasko M.

• Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Śląska, ul. Akademicka 10, 44-100 Gliwice, Polska

autor

Adrikowski T.

• Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Śląska, ul. Akademicka 10, 44-100 Gliwice, Polska

Bibliografia

• 1. Chen W.K.: The Circuits and Filters Handbook. IEEE Press, New York 1995.
• 2. Drwal G., Grzynkowski R., Kapusta A., Słota D.: Mathematica 4 . Wydawnictwo Pracowni Komputerowej Jacka Skalmierskiego, Gliwice 2000.
• 3. Matejicek L, Vrba K.: Sensitivity analysis of higher-order filters. Electronics Letters, November 2001.
• 4. Pasko M., Adrikowski T.: Unormowanie filtrów eliptycznych. Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej, "Elektryka" z. 182. ss. 89-100, Gliwice 2002.
• 5. Pasko M., Adrikowski T.: Realizacja praktyczna filtrów eliptycznych parzystego rzędu z użyciem struktur bikwadratowych. Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej, "Elektryka" z. 182, ss. 101-122, Gliwice 2002.
• 6. Pasko M., Adrikowski T.: Analiza wrażliwości charakterystyki częstotliwościowej filtrów eliptycznych realizowanych na bazie struktur bikwadratowych. Materiały konferencyjne ZKwE'2004. Poznań 2004.
• 7. Thede L.: Analog And Digital Filter Design Using C. Hall PTR, New Jersey 1996.
• 8. Vallette F., Vasilescu G.: A Fully Recursive Approach to the Computation of Higher Order Sensitivities of Linear Active Circuits. IEEE Transactions on Circuit and Systems Vol. 46, No. 8, pp. 907-919, August 1999.