Metoda szczególnego próbkowania a FFT w pomiarach elektroenergetycznych

• Autorzy: Galewski M.T.

Warianty tytułu

EN

Particular sampling method vs. FFT in electrical supplying

• Konferencja: Metody i technika przetwarzania sygnałów w pomiarach fizycznych / Międzynarodowe Seminarium Metrologów (IX ; 23-25.10.2001 ; Rzeszów, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono podstawowe różnice pomiędzy metodami wykorzystującymi próbkowanie równomierne, a więc DFT i FFT a metodą szczególnego próbkowania, opracowaną specjalnie do pomiarów elektroenergetycznych, które wymagają dużej dokładności amplitudowej i fazowej, ale ograniczonej liczby wyznaczanych harmonicznych.

EN

The paper presents basic difference between uniform sampling methods like DFT or FFT and the particular sampling method that was worked out especially for measurements in electrical supplying systems. This kind of measurements requires high amplitude and phase precision but limited number of harmonic components.

Słowa kluczowe

PL

pomiary elektroenergetyczne; metoda szczególnego próbkowania; MŚP; transformata Fouriera; próbkowanie równomierne; DFT; FFT

EN

electrical supplying systems; particular sampling method; Fourier transform; uniform sampling method; DFT; FFT

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika
• Rocznik: 2002
• Tom: z. 22 [192]
• Strony: 69--74
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Galewski M.T.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektrotechniki i Automatyki, Katedra Miernictwa Elektrycznego

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektrotechniki i Automatyki, Katedra Miernictwa Elektrycznego

Bibliografia

• 1. Sawicki J.: The Finding of the Vector of the Fundamental Harmonic by the Method of a Particular Sampling, IMEKO XI, Houston (USA) 1988, v. Aplic., str. 581-589.
• 2. Sawicki J.: Sposób i układ do pomiaru wektora harmonicznej podstawowej przebiegu odkształconego, Patent nr 148310, 1990.
• 3. Wołoszyk M.: Rationalised Method of Particular Sampling for the Measurement of the Fundamental Harmonic. IMEKO XII, Beijing (China) 1991, vol. I.
• 4. Sawicki J.: Modification of particular sampling method, Proceedings of the XIII IMEKO World Congress, Vol. 3, Torino (Italy), 1994, str. 2319-2323.
• 5. Wołoszyk M., Sawicki J.: Wyznaczanie wektora wybranej harmonicznej nieparzystej przebiegu odkształconego metodą, szczególnego próbkowania, IX Międzynarodowe Seminarium Metrologów MSM'01, Rzeszów, 23-25. 10.2001
• 6. Galewski M., Wołoszyk M.: Fundamental Harmonic Power Measurement, Xlll IMECO World Congress "From Measurement to Innovations", Vol. 3, Torino, Italy, September 5-9, 1994.
• 7. Galewski M., Wołoszyk M. : Dynamic error of period in particular sampling method, Third International Workshop on Power Definitionss and Measurements under Nonsinusoidal Conditions. Milano, Italy, September 25-27, 1995.
• 8. Galewski M., Wołoszyk M. : Choice of AiD converter for the particular sampling method, XIV IMEKO World Congress "New measurements - challenges and visions", vol. 4 A, Tampere, Finland, June 1-6, 1997.
• 9. Wołoszyk M., Galewski M.: Błąd zaokrągleń w metodzie szczególnego próbkowania, Krajowy Kongres Metrologii "Nowe wyzwania i wizje metrologii", Gdańsk, 15-18 września 1998.
• 10. Wołoszyk M., Galewski M.: Noise Error of Particular Sampling Method, XVI IMEKO World Congress, vol. IX, Vienna, Austria, September 25-28, 2000.
• 11. Wołoszyk M.: Wykorzystanie metody szczególnego próbkowania do eliminacji zakłóceń w pomiarach impedancji uziemienia, Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej, zesz. 14, Gdańsk, 2000, str. 160-166.
• 12.Galewski M., Wołoszyk M. : Szybki cyfrowy wektoromierz szerokopasmowy, V Szkoła Konferencja „Metrologia wspomagana komputerowo", Rynia k/Warszawy, 21-24.05.2001.