Wpływ procesu wygrzewania na niektóre właściwości nanorurek węglowych

• Autorzy: Kowalska E. , Kowalczyk P. , Radomska J. , Czerwosz E. , Wronka H. , Bystrzejewski M.
• Konferencja: VII Krajowa Konferencja Techniki Próżni (7; 18-21.09.2005; Cedzyna, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

Carbon nanotubes (CNTs) were synthesized using a chemical vapor deposition (CVD) method. The properties of raw CNTs and after vacuum annealing treatment were studied using electron microscopy (SEM), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS) and thermogravimetric analysis (TGA) methods. field emission characteristics of the raw and vacuum heated up to 650(st.C) carbon nanotube films (CNTFs) were measured in diode system. Emissive properties of the CNTFs depend on an annaling process during which structural changes in the nanotube walls take place. The structural changes, related to saturation of dangling bonds, influence a rate of oxidation process and also improve the emissive field properties.

Słowa kluczowe

PL

nanorurki węglowe; przewodnictwo elektryczne

EN

carbon nanotube

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Elektronika
• Rocznik: 2005
• Tom: z. 153
• Strony: 187--191
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., wykr., rys.

Twórcy

autor

Kowalska E.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, ul. Długa 44/50, 00-241 Warszawa

autor

Kowalczyk P.

• Uniwersytet Łódzki, Katedra Fizyki Ciała Stałego, ul. Pomorska 149/153, 90-235 Łódź

autor

Radomska J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, ul. Długa 44/50, 00-241 Warszawa

autor

Czerwosz E.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, ul. Długa 44/50, 00-241 Warszawa

autor

Wronka H.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, ul. Długa 44/50, 00-241 Warszawa

autor

Bystrzejewski M.

• Uniwersytet Warszawski, Wydział Chemii, ul. Pasteura, 02-093 Warszawa

Bibliografia

• [1] A. Thess, R. Lee, P. Nikolaev i inn., Science 273, s. 483, 1996.
• [2] J. Hone, M. Whitney, C. Piskoti, A. Zettl, Phys. Rev. B. Condens. Matt. 59, s. R2514, 1999.
• [3] E.W. Wong, P.E. Sheehan, C.M. Lieber, Science 277, s. 1971, 1997.
• [4] W. Zhu, C. Bower, O. Zhou, G. Kochanski, S. Jin, Appl. Phys. Lett. 75, s. 873, 1999.
• [5] S. Wong, E. Joselevich, A. Woolley, C. Cheung, C.M. Lieber, Nature 394, s. 52, 1998.
• [6] D.L. Caroll, P. Redlich, P.M. Ajayan i inn., Phys. Rev. Lett. 78, s. 2811, 1997.
• [7] E. Kowalska, J. Radomska, P. Byszewski i inn. J. Mater. Res. 18, s. 2451, 2003.
• [8] E. Kowalska, P. Kowalczyk, J. Radomska i inn, 30th Internacional Connference on Vaccum Microbalance Techniques, Wrocław, 2005.
• [9] E. Czerwosz, P. Dłużewski, W. Gierałtowski, i inn., J. Vac. Science & Technol. B18, s. 1064, 2000.
• [10] J. Tersoff, D.R. Hamann, Phys. Rev. Lett. 50, s. 1998, 1983.
• [11] Z. Klusek, P. Kobierski, W. Olejniczak, Appl. Phys. A 66, s. 129, 1998.
• [12] O. Gröning, L. Nilsson, R. Clergeraux, i inn., 15th International Vacuum Microelectronics Conference and 48th International Field Emission Symposium, France, Lyon 2002.