PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Metoda korekcji prądu ciemnego w matrycach CCD

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
A correction algorithm for dark current in CCDs
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Celem artykułu jest zaprezentowanie nowego podejścia do korekcji prądu ciemnego w matrycach CCD. Szczególne zastosowanie tej metody dotyczy zdjęć o bardzo długich czasach naświetlania, gdzie ładunek generowany termicznie wpływa wyraźnie na jakość otrzymywanych obrazów. W odróżnieniu od dotychczas stosowanej metody odejmowania klatki ciemnej, nowy pomysł opiera się na zależnościach czasowych generacji prądu ciemnego, uwzględnia budowę piksela i procesy zachodzące podczas długotrwałej rejestracji materiału. Nowa idea została porównana z klasycznym podejściem korekcyjnym na rzeczywistych zdjęciach astronomicznych.
EN
A new correction algorithm for dark current generation in CCDs was presented in the article. The suggested application includes long exposure images correction when the thermally generated charge significantly degrades image quality. Unlike the nowadays widely used dark frame subtraction method, the new concept is based on time dependencies of dark current in CCDs, provides for pixel structure and processes during long term image acquisition. Both – the present and the new method – were compared on sample real astronomical images.
Rocznik
Strony
318--320
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz., il., tabl., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice, apopowicz@polsl.pl
Bibliografia
  • [1] Dave Litwiller, „CCD vs CMOS: Facts and Fiction”, Photonics Spectra, 2001
  • [2] G.S.Hobson “Przyrządy z przenoszeniem ładunku” WNT 1981
  • [3] Dewitt G. Ong, R. F. Pierret “Thermal Carrier Generation In CCD” IEEE Transaction On Electron Devices, 1975
  • [4] „CCD Image Sensor Noise Sources”, Kodak: Image Sensor Solutions, 2005
  • [5] Ralf Widenhorn, Mrley M. Blouke, Alexander Weber, Armin Rest, Erik Bodegom, “Temperature dependence of dark current in a CCD”, SPIE vol. 4669, 2002.
  • [6] C. Tivarus and W. C. McColgin, “Dark Current Spectroscopy of Irradiated CCD Image Sensors”, IEEE Transactions On Nuclear Science, vol. 55, no. 3, 2008
  • [7] Tadeusz Figielski, “Zjawiska nierównowagowe w półprzewodnikach”, PWN, 1980
  • [8] Jan Hennel, “Podstawy elektroniki półprzewodnikowej”, WNT Warszawa, 2003
  • [9] Adam Popowicz “Analiza generacji prądu ciemnego w matrycach CCD” Przegląd Elektrotechniczny Vol. 2011, nr 4
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-PWA7-0055-0041
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.